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盲孔顯微組織制備方法之機械拋光+離子束拋光法

時間:2024/11/12閱讀:185
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盲孔技術是PCB設計中非常重要的連接技術,盲孔用于連接PCB的表層和內層線路,使得電路布局更加緊湊、合理,有助于實現高密度互連,提高電路板的集成度和性能。


在高電氣性能的電路中,具有良好導電性的銅盲孔能夠確保電路層之間更良好的連接。銅盲孔的性能與銅晶粒的成型方式、形態(tài)、分布情況以及晶粒之間的裂紋、孔隙等缺陷緊密相關,通過獲得真實、無外來引入損傷的銅晶粒形貌,可以從側面分析盲孔的導電性、強度、耐腐蝕性和可靠性等性能。


本文選取某PCB盲孔樣品,對其進行機械拋光+離子束拋光制備,獲得平整、無損傷、無污染的斷面,為盲孔內部顯微組織的分析提供可參考的科學的制樣手段。

PART1
01 鑲嵌

為使后續(xù)能夠半自動研磨拋光,將樣品鑲嵌至合適的尺寸。鑲嵌尺寸控制在D38 x H12 mm內,便于后續(xù)的離子束拋光。

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圖1. 鑲嵌示意圖

PART2
研磨拋光


鑲嵌后的樣品,將進行機械研磨與拋光,步驟如下表:


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表1.研磨拋光耗材與參數


盲孔尺寸較小,需通過手動磨拋定位到目標位置后,再進行小粒徑的拋光。此后的拋光對樣品的去除速率較慢,采用自動模式拋光不會輕易將目標位置去除,將研磨時造成的微損傷去除即可。

PART3
離子束拋光

銅材料的延展性較高,機械拋光后的樣品表面,仍不可避免地存在一些光鏡無法觀察到的細微延展和應力損傷,從而會掩蓋細小的孔隙、裂紋等缺陷,也無法獲得清晰的晶粒圖像,需要通過適當的去應力處理后才能進行電鏡觀察和分析。


在此案例中選擇使用離子束拋光的方式去除延展和損傷,該方式是通過帶著一定能量的氬離子將樣品表面的變形層,以原子形式一顆顆地去除掉,最終獲得無損傷且無污染的表面。離子束拋光參數如下:


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表2.離子束拋光參數


該氬離子束為散焦型,束斑大,結合樣品能夠旋轉并左右擺動的運動特性,可以對樣品進行大面積加工。

PART4
結論

離子束拋光后,盲孔的顯微組織形貌如下電鏡圖:


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圖2. 機械拋光+離子束拋光后BSE圖


SEM背散射模式下,制備好的銅盲孔晶粒襯度明顯,放大后局部孔隙等缺陷清晰可見。


備注:以上研磨與拋光參數、氬離子束拋光參數僅供參考,可根據具體材料情況進行調整。

所用設備


徠卡 TIC 3X三離子束研磨儀
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針對硬/軟復合材料,多孔材料,脆性材料及材質不均一性材料,可采用離子束切割拋光技術獲得真實的平整截面,從而適宜于SEM觀察及EDS、WDS、Auger或者EBSD分析。離子束研磨技術適用于各種樣品,使用該技術對樣品進行處理,樣品受到損傷或形變的可能性低,可暴露出樣品內部真實的結構信息。



標樂手自一體磨拋機EcoMet30
圖片

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EcoMet30專為連續(xù)使用的實驗室環(huán)境而設計,并經過了大量的測試。具有可編程、用戶友好型觸摸屏,確保良好的質量和可重復性。它有單盤和雙盤兩種型號,適合多用戶使用;最多可集成 3 個 Burst 拋光液配送模塊,實現任務自動化,使用戶能夠騰出時間處理其他優(yōu)先事項。

END



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