廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第2年

400-8084-333

標(biāo)樂(lè)
徠卡Leica 顯微鏡
徠卡Leica 電鏡制樣
威爾遜
形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量
萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
鼎竑離子減薄
EM科特 臺(tái)式掃描電鏡
美墨爾特
微曠 高性能原位X射線CT
島津Shimadzu 色譜
島津Shimazu 元素分析與光譜儀
島津Shimazu 表面分析
島津Shimadzu 物理性分析
島津Shimadzu 無(wú)損檢測(cè)
TQC /SHEEN涂料測(cè)試
其他設(shè)備
金相切片耗材
  • 三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xZEISS SPECTRUM

    使用三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xZEISS SPECTRUM，您的生產(chǎn)確定性和效率將提升至一個(gè)新的高度。您對(duì)這些產(chǎn)品的信賴源于其測(cè)量結(jié)果的可靠性。升級(jí)，讓測(cè)量結(jié)果更可靠。

    型號(hào)： 所在地：廣州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/10/29 9:48:00 對(duì)比
    三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x精密測(cè)量三維掃描
  • 三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xZEISS CAPTUM

    三坐標(biāo)測(cè)量?jī)xZEISS CAPTUM通過(guò)靈活的測(cè)頭及尺寸組合，為多樣化的工件提供適合的解決方案，捕捉，分析，重復(fù)簡(jiǎn)易三步實(shí)現(xiàn)可靠的質(zhì)量保障。

    型號(hào)： 所在地：廣州市參考價(jià)： 面議更新時(shí)間：2024/10/29 9:39:18 對(duì)比
    三坐標(biāo)測(cè)量?jī)x精密測(cè)量三維掃描
1共1頁(yè),2條記錄 跳轉(zhuǎn)

會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏！
標(biāo)簽：
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用：

提示

X
您的留言已提交成功！我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
撥打電話
在線留言