廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第3年

400-8084-333

標(biāo)樂(lè)
徠卡Leica 顯微鏡
徠卡Leica 電鏡制樣
威爾遜
形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量
萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
鼎竑離子減薄
EM科特 臺(tái)式掃描電鏡
美墨爾特
微曠 高性能原位X射線CT
島津Shimadzu 色譜
島津Shimazu 元素分析與光譜儀
島津Shimazu 表面分析
島津Shimadzu 物理性分析
島津Shimadzu 無(wú)損檢測(cè)
TQC /SHEEN涂料測(cè)試
其他設(shè)備
金相切片耗材

領(lǐng)拓聚焦 | 前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)

時(shí)間:2024-5-27閱讀:169
分享:


前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)


顯微樣品制樣與分析、電鏡樣品前處理作為微觀研究的關(guān)鍵環(huán)節(jié),其技術(shù)水平在科學(xué)研究和生產(chǎn)制造中扮演著越來(lái)越重要的角色。對(duì)于不同樣品而言,采用正確的制樣技術(shù)和觀察技巧十分關(guān)鍵。5月23日,前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)在西南交通大學(xué)成功舉辦。

領(lǐng)拓聚焦 | 前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)

01

主題匯報(bào)

活動(dòng)開(kāi)始,由材料科學(xué)與工程實(shí)驗(yàn)教學(xué)示范中心副主任陳大志進(jìn)行開(kāi)場(chǎng)致辭,對(duì)蒞臨會(huì)議的專家學(xué)者、研究人員和學(xué)生表示了衷心的歡迎和感謝。

領(lǐng)拓聚焦 | 前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)

此次會(huì)議主要為技術(shù)分享交流。上午由領(lǐng)拓和徠卡的應(yīng)用工程師分別進(jìn)行“標(biāo)樂(lè)金相制備流程及應(yīng)用案例"和“徠卡光學(xué)顯微鏡在不同尺度下的形貌特征"兩個(gè)主題的匯報(bào)分享。下午由領(lǐng)拓的高級(jí)應(yīng)用工程師黃曉曄分別進(jìn)行“三離子束研磨在金屬材料EBSD樣品制備上的應(yīng)用"和“離子減薄技術(shù)在透射電鏡樣品制備中的應(yīng)用"的主題分享。

領(lǐng)拓聚焦 | 前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)
領(lǐng)拓聚焦 | 前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)



02

交流互動(dòng)

領(lǐng)拓聚焦 | 前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)

領(lǐng)拓儀器在此次會(huì)議中盛裝出席,攜帶了徠卡超景深視頻顯微鏡DVM6和正置材料顯微鏡DM4M來(lái)到現(xiàn)場(chǎng),讓現(xiàn)場(chǎng)參會(huì)人員能近距離體驗(yàn)設(shè)備的操作與觀察樣品,并提供現(xiàn)場(chǎng)疑問(wèn)答疑。

領(lǐng)拓聚焦 | 前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)
領(lǐng)拓聚焦 | 前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)
領(lǐng)拓聚焦 | 前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)

03

參會(huì)設(shè)備


徠卡超景深視頻顯微鏡DVM6

領(lǐng)拓聚焦 | 前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)

徠卡Leica DVM6 超景深視頻顯微鏡是一款多功能視頻顯微鏡,可以用在檢測(cè)分析,質(zhì)量控制,失效分析,研發(fā)產(chǎn)品等領(lǐng)域的測(cè)量分析。集成的照明和復(fù)消色差物鏡確保了高品質(zhì)的圖像。徠卡多年的光學(xué)顯微鏡制備經(jīng)驗(yàn),賦予了超景深視頻顯微鏡DVM6更真實(shí)的色彩還原度,圖像與眼鏡所見(jiàn)之物保持一致。


徠卡正置材料顯微鏡DM4M

領(lǐng)拓聚焦 | 前沿金相/電鏡制樣技術(shù)與顯微觀察學(xué)術(shù)研討會(huì)

Leica DM4M金相顯微鏡適用于材料科學(xué)和質(zhì)量控制領(lǐng)域,能夠提供真實(shí)、可再現(xiàn)的顯微鏡觀察結(jié)果,呈現(xiàn)出色的光學(xué)性能以及高品質(zhì)的圖像。只需輕敲一個(gè)按鈕,即可存儲(chǔ)和恢復(fù)成像條件。利用高品質(zhì)顯微圖像,能夠輕松進(jìn)行具有挑戰(zhàn)性的檢驗(yàn)、測(cè)量和分析任務(wù)。

領(lǐng)拓實(shí)驗(yàn)室致力于材料分析業(yè)務(wù),可提供形貌觀察與測(cè)量、金相測(cè)試、元素與成分分析、硬度測(cè)試、3D掃描等多種解決方案,為您提供最完善的檢測(cè)服務(wù)合作。



會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
撥打電話
在線留言