廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司
初級(jí)會(huì)員 | 第2年

400-8084-333

標(biāo)樂
徠卡Leica 顯微鏡
徠卡Leica 電鏡制樣
威爾遜
形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量
萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
鼎竑離子減薄
EM科特 臺(tái)式掃描電鏡
美墨爾特
微曠 高性能原位X射線CT
島津Shimadzu 色譜
島津Shimazu 元素分析與光譜儀
島津Shimazu 表面分析
島津Shimadzu 物理性分析
島津Shimadzu 無損檢測(cè)
TQC /SHEEN涂料測(cè)試
其他設(shè)備
金相切片耗材

領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)

時(shí)間:2024-7-10閱讀:90
分享:


顯微樣品制樣與分析、電鏡樣品前處理作為微觀研究的關(guān)鍵環(huán)節(jié),其技術(shù)水平在科學(xué)研究和生產(chǎn)制造中扮演著越來越重要的角色。6月28日,材料金相制備與顯微表征研討會(huì)在文山學(xué)院圓滿完成。




領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)

領(lǐng)拓儀器作為材料分析測(cè)試領(lǐng)域的設(shè)備商,隆重出席此次研討會(huì),并派出多名高級(jí)應(yīng)用工程師在會(huì)上進(jìn)行“先進(jìn)制樣技術(shù)與案例分享"、“徠卡光學(xué)顯微鏡在不同尺度下的形貌特征"、“離子減薄技術(shù)在透射電鏡樣品制備中的應(yīng)用"的主題報(bào)告,深入探討鋁合金金相制樣的先進(jìn)技術(shù)、顯微觀察的關(guān)鍵技巧以及電鏡前處理制樣的優(yōu)化方法。

領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)
領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)
領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)
現(xiàn)場(chǎng)精彩




領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)
領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)

本次研討會(huì)領(lǐng)拓儀器攜帶超景深數(shù)碼視頻顯微鏡 DVM 6、正置材料顯微鏡 DM4M、AutoMet 250(Pro)磨拋機(jī)等設(shè)備到現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行技術(shù)展示,并與現(xiàn)場(chǎng)參會(huì)人員圍繞金相制備工藝優(yōu)化、顯微表征技術(shù)創(chuàng)新以及在新能源、先進(jìn)制造等領(lǐng)域的應(yīng)用前景等議題展開熱烈討論。

領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)
領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)
領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)
領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)


未能親臨現(xiàn)場(chǎng)?沒關(guān)系—領(lǐng)拓儀器帶您一起回顧現(xiàn)場(chǎng)展示的設(shè)備。



參會(huì)設(shè)備

熱壓鑲嵌機(jī)SimpliMet 4000

領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)

  • 彩色觸摸屏控制增加了多種先進(jìn)的功能。

  • 快速切換制備步驟,以便輕松設(shè)置流程。

  • 與自動(dòng)配送系統(tǒng)兼容,可進(jìn)一步節(jié)省成本并獲得高度可重復(fù)的結(jié)果。

  • 沖洗和旋轉(zhuǎn)功能使您只需按一下按鈕即可快速輕松地進(jìn)行清潔。

  • 伸縮式水管可快捷清潔整個(gè)碗型內(nèi)襯。

超景深數(shù)碼視頻顯微鏡 DVM 6

領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)

  • 一款多功能視頻顯微鏡,可以用在檢測(cè)分析,質(zhì)量控制,失效分析,研發(fā)產(chǎn)品等領(lǐng)域的測(cè)量分析。

  • 集成的照明和復(fù)消色差物鏡確保了高品質(zhì)的圖像。

  • 可用DVM6的支架傾斜功能來觀察樣品的側(cè)面信息,通過支架的±60°傾斜,可以對(duì)樣品進(jìn)行360°觀察。

  • 利用景深合成可對(duì)特征進(jìn)行3D尺寸的測(cè)量。

  • 顯微鏡的編碼功能使得測(cè)量結(jié)果很容易重現(xiàn),報(bào)告和文檔都可以一鍵生成。

正置材料顯微鏡 DM4M

領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)


  • 模塊化設(shè)計(jì),可實(shí)現(xiàn)觀察模式:反射觀察、透射觀察。

  • 觀察方式:明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光、微分干涉。

  • 6孔位物鏡轉(zhuǎn)盤,配置32mm直徑專業(yè)工業(yè)物鏡。

  • 復(fù)消色差光路,視野直徑25mm。

  • 自動(dòng)在不同倍數(shù)物鏡下拍的照片中,加相應(yīng)倍數(shù)標(biāo)尺。


精研一體機(jī) Leica EM TXP

領(lǐng)拓聚焦 | 文山學(xué)院-材料金相制備與顯微表征研討會(huì)

  • 對(duì)微小目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位和樣品制備。

  • 通過立體顯微鏡實(shí)現(xiàn)原位觀察。

  • 多功能化機(jī)械處理。

  • 自動(dòng)化樣品處理過程控制。

  • 可獲得平如鏡面的拋光效果。

  • LED 環(huán)形光源亮度可調(diào),4分割區(qū)段可選。



本次研討會(huì)為企業(yè)與學(xué)校之間搭建了合作的橋梁,通過與廣大師生的深入交流,更直接地了解行業(yè)需求和技術(shù)發(fā)展趨勢(shì)。領(lǐng)拓儀器時(shí)刻關(guān)注相關(guān)領(lǐng)域的新動(dòng)態(tài),通過強(qiáng)有力的資源整合為高校科研單位提供行業(yè)分析檢測(cè)解決方案。


會(huì)員登錄

×

請(qǐng)輸入賬號(hào)

請(qǐng)輸入密碼

=

請(qǐng)輸驗(yàn)證碼

收藏該商鋪

X
該信息已收藏!
標(biāo)簽:
保存成功

(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)

常用:

提示

X
您的留言已提交成功!我們將在第一時(shí)間回復(fù)您~
撥打電話
在線留言