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邀請函 | 前沿?zé)o損檢測技術(shù)與電鏡制樣研討會

時間:2024-9-12閱讀:36
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無損檢測、顯微樣品制樣與分析、電鏡樣品前處理作為微觀研究的關(guān)鍵環(huán)節(jié),其技術(shù)水平在科學(xué)研究和生產(chǎn)制造中扮演著越來越重要的角色。對于不同樣品而言,采用正確的制樣技術(shù)和觀察技巧十分關(guān)鍵,本次研討會旨在深入探討樣品無損檢測的先進技術(shù)、顯微觀察的關(guān)鍵技巧以及電鏡前處理制樣的優(yōu)化方法,為不同科研領(lǐng)域的老師同學(xué)以及企業(yè)技術(shù)人員,提供一個交流學(xué)習(xí)、分享經(jīng)驗的平臺。

邀請函 | 前沿?zé)o損檢測技術(shù)與電鏡制樣研討會

時間

邀請函 | 前沿?zé)o損檢測技術(shù)與電鏡制樣研討會

2024年9月26日(08:30-16:00)

邀請函 | 前沿?zé)o損檢測技術(shù)與電鏡制樣研討會

地點

邀請函 | 前沿?zé)o損檢測技術(shù)與電鏡制樣研討會

哈爾濱工業(yè)大學(xué)深圳校區(qū)教學(xué)樓 T4 402


邀請函 | 前沿?zé)o損檢測技術(shù)與電鏡制樣研討會




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