博勢(shì)Proceq Flaw Detector 100 PA 16:64 探傷儀返回列表頁(yè)

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更新時(shí)間：2023-10-09 19:10:45瀏覽次數(shù)：155次

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升級(jí)至 Proceq 探傷儀 100 PA 16:64 會(huì)為您的設(shè)置帶來(lái)更大的靈活性。附加的多路技術(shù)有助于在腐蝕映射中執(zhí)行 L-Scan 以及檢測(cè)大復(fù)合面板的完整性。

詳情介紹

優(yōu)點(diǎn)

? 可兼容任何 64 元素相控陣探頭
? 僅需 30 秒即可配置 - 高精度：C-Scan
? C-Scan 可在任何振幅或深度顯示。使用合并的 C-Scan，可針對(duì)相同視圖中的所有檢測(cè)顯示數(shù)據(jù)。
? 配置：16:64 通道
? 增益范圍：UT/TOFD：100 dB （按 0.1 dB 增量遞增） PA：76 dB （按 0.1 dB 增量遞增）
? 測(cè)量值：路徑長(zhǎng)度，深度，表面距離，DAC，AWS，DGS