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博勢(shì)Proceq Flaw Detector 100 PA 16:16 探傷儀

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更新時(shí)間：2023-10-09 19:18:34瀏覽次數(shù)：178次

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升級(jí)至 Proceq 探傷儀 100 PA 16:16 將適用于廣泛的應(yīng)用，可借助內(nèi)置向?qū)Ш陀脩?hù)指南進(jìn)行設(shè)置、執(zhí)行和分析。針對(duì)想要了解相控陣或顯示區(qū)段掃描的用戶(hù)。
優(yōu)點(diǎn)

? 使用相控陣的功能，進(jìn)行高性能的傳統(tǒng)便攜式缺陷檢測(cè)
? A、B、C、True Top 和 End Scan 成像功能涵蓋了許多應(yīng)用   
? 3D Scan 計(jì)劃有助于顯示組件中的相控陣波束覆蓋。
? 配置：16:16 通道
? 增益范圍：UT/TOFD：100 dB （按 0.1 dB 增量遞增） PA：76 dB （按 0.1 dB 增量遞增）
? 測(cè)量值：路徑長(zhǎng)度，深度，表面距離，DAC，AWS，DGS

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