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Equotip Live Leeb D 便攜硬度計(jì)
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更新時(shí)間:2024-10-19 21:00:07

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徠卡Leica 顯微鏡
徠卡Leica 電鏡制樣
威爾遜
形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量
萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
鼎竑離子減薄
EM科特 臺(tái)式掃描電鏡
美墨爾特
微曠 高性能原位X射線CT
英斯特朗Instron 力學(xué)測(cè)試
島津Shimadzu 色譜
島津Shimazu 元素分析與光譜儀
島津Shimazu 表面分析
島津Shimadzu 物理性分析
島津Shimadzu 無損檢測(cè)
TQC /SHEEN涂料測(cè)試
其他設(shè)備
金相切片耗材
隨著無線EquotipLive Leeb D 型沖擊裝置和直觀的Equotip程序你可以測(cè)量和收集任何硬度數(shù)據(jù)表。通過自動(dòng)同步功能啟用數(shù)據(jù)的全局傳輸,并且可以通過電子郵件和其他渠道共享報(bào)告。功能包括一個(gè)安全的網(wǎng)絡(luò)平臺(tái)–live.proceq.com–集中報(bào)告模板和檔案管理,以及完整的數(shù)據(jù)跟蹤,記錄和連續(xù)的云備份防止數(shù)據(jù)丟失。
優(yōu)勢(shì)無線沖擊裝置和簡(jiǎn)潔的用戶界面
輕松地在世界范圍內(nèi)實(shí)時(shí)共享測(cè)量和報(bào)告
全數(shù)據(jù)的可追溯性記錄和媒體添加
默認(rèn)單位HL
測(cè)量范圍150 - 950 HL
測(cè)量精度± 4 HL(800 HL 時(shí)為 0.5%)
可用單位HB, HV, HRB, HRC, HS, MPA
可用探頭Leeb D
與其他方法相結(jié)合 
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)2 / 80
小厚度 (mm/inch)3 / 0.12
儀器固件iOS應(yīng)用程序,包括免費(fèi)更新。
訪問live.proceq.com獲取兼容性信息 。
預(yù)定快捷鍵
讀數(shù)的音頻輸出,將手機(jī)置于口袋亦可聽到
屏幕指南
沖擊方向自動(dòng)修正
驗(yàn)證和校準(zhǔn)信息以獲得更高的可靠性
PC 軟件基于瀏覽器的 Equotip Live 解決方案
顯示屏任何 iOS 設(shè)備(交貨時(shí)并未包括)
內(nèi)存iOS 設(shè)備的內(nèi)存
連接用于充電和更新的USB

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