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Equotip 550 Portable Rockwell便攜硬度計(jì)
  • Equotip 550 Portable Rockwell便攜硬度計(jì)
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貨物所在地:廣東廣州市

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更新時(shí)間:2024-10-19 21:00:07

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標(biāo)樂(lè)
徠卡Leica 顯微鏡
徠卡Leica 電鏡制樣
威爾遜
形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量
萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
鼎竑離子減薄
EM科特 臺(tái)式掃描電鏡
美墨爾特
微曠 高性能原位X射線CT
英斯特朗Instron 力學(xué)測(cè)試
島津Shimadzu 色譜
島津Shimazu 元素分析與光譜儀
島津Shimazu 表面分析
島津Shimadzu 物理性分析
島津Shimadzu 無(wú)損檢測(cè)
TQC /SHEEN涂料測(cè)試
其他設(shè)備
金相切片耗材
用于刮擦敏感、拋光及細(xì)小部件的便攜洛氏硬度檢測(cè)儀。它通過(guò)微米級(jí)的細(xì)小穿透,具有*的靈敏度。堅(jiān)固的觸摸屏帶有增強(qiáng)的軟件應(yīng)用和分析功能。
優(yōu)勢(shì)與 Leeb 和 UCI 相結(jié)合
與固定式 Rockwell 硬度檢測(cè)儀同樣可靠、準(zhǔn)確和標(biāo)準(zhǔn)化,但比之更快
內(nèi)置強(qiáng)大的報(bào)告功能,隨時(shí)準(zhǔn)備好可用的數(shù)據(jù)資料
默認(rèn)單位μm, µinch
測(cè)量范圍0-100 µm;19-70 HRC;35-1‘000 HV
測(cè)量精度± 0.8 µm; ~ ± 1.0 HRC
可用單位HB, HV, HRA, HRB, HRC, R15N, HR15T, HMMRC, MPA
可用探頭Portable Rockwell (50N)
與其他方法相結(jié)合Leeb,UCI
平均粗糙度 Ra (µm / µinch)2 / 80
小厚度 (mm/inch)10 x 壓入深度
儀器固件個(gè)性化用戶(hù)資料和視圖
集成至自動(dòng)測(cè)試環(huán)境中(包括遠(yuǎn)程控制)
支持 11 種語(yǔ)言和時(shí)區(qū)
PC 軟件Equotip Link 可提供直接報(bào)告和自定義報(bào)告
顯示屏7“帶雙核處理器的彩色堅(jiān)固的觸摸屏裝置(800×480像素)
內(nèi)存內(nèi)置 8 GB 閃存(> 1000000 個(gè)測(cè)量值)
連接USB 主機(jī)/設(shè)備和以太網(wǎng)

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