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RES102-離子減簿儀 Leica EM RES102
  • RES102-離子減簿儀 Leica EM RES102
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更新時(shí)間:2024-10-10 09:36:20

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徠卡Leica 電鏡制樣
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麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
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島津Shimazu 元素分析與光譜儀
島津Shimazu 表面分析
島津Shimadzu 物理性分析
島津Shimadzu 無損檢測
TQC /SHEEN涂料測試
其他設(shè)備
金相切片耗材
使用徠卡 EM RES102,使您的樣品具備高水平的靈活性,具有輕薄、清潔、拋光、切割的坡度和結(jié)構(gòu)。*的離子束研磨系統(tǒng)結(jié)合了在一個(gè)單工作臺面單元上制備TEM、SEM和LM樣品的特點(diǎn)。各種樣品架可以進(jìn)行多元化應(yīng)用。除了高能量的離子銑工藝,徠卡EM RES102也可適于采用低離子能量處理非常柔軟的樣本。

為您帶來的好處
 

Leica EM RES102 可對樣品進(jìn)行離子束減薄,清潔,截面切割,拋光以及襯度增強(qiáng),這*滿足了您對應(yīng)用需求的多樣化和便利性。

操作簡便
› 19”觸摸屏電腦控制單元,監(jiān)控并記錄制樣過程
› 內(nèi)置應(yīng)用參數(shù)庫
› 程序化制樣參數(shù)設(shè)定,加速初學(xué)者學(xué)習(xí)曲線
› 幫助文件幫助初學(xué)者以及對設(shè)備進(jìn)行維護(hù)
高效/節(jié)約成本
› TEM,SEM和LM應(yīng)用功能集于一體
› TEM樣品制備獲得的薄區(qū)大,有效提高了TEM樣品制備效率
› SEM樣品制備大可達(dá)25mm樣品直徑
› 預(yù)抽室系統(tǒng)幫助快速交換樣品,減少等待時(shí)間,并保證了樣品室的持續(xù)高真空
› 局域網(wǎng)功能方便遠(yuǎn)程操控
› LN2樣品臺使得溫度敏感型樣品可在優(yōu)化條件下進(jìn)行離子研磨

*的解決方案

Leica EM RES102 是一款*的離子束研磨設(shè)備,帶有兩個(gè)鞍形場離子源,離子束能量可調(diào),以獲得理想的離子研磨結(jié)果。這一款獨(dú)立的桌面型設(shè)備集 TEM,SEM和LM樣品制備功能于一體,這與市面上其它設(shè)備截然不同。除了高能量離子研磨功能外,徠卡EM RES102還可用于低能量極溫和的離子束研磨過程。

TEM, SEM 或 LM樣品制備 - 在于您的選擇

為了支持多樣化的應(yīng)用需求,Leica EM RES102 可以裝配各種樣品臺以適用于TEM,SEM及LM樣品制備。預(yù)抽室系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)樣品快速交換,從而可有效提高樣品交換效率 。

安全

 

› 精確的自動終止功能,適用于光學(xué)終止或透明樣品的法拉第杯終止

› 在制樣過程中可以時(shí)時(shí)存儲活圖像或視頻
› 離子源和樣品運(yùn)動馬達(dá)驅(qū)動,程序化控制,因而可獲得重復(fù)性制樣結(jié)

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