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EM TXP-精研一體機(jī) Leica EM TXP
  • EM TXP-精研一體機(jī) Leica EM TXP
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貨物所在地:廣東廣州市

更新時(shí)間:2024-10-10 09:36:20

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標(biāo)樂(lè)
徠卡Leica 顯微鏡
徠卡Leica 電鏡制樣
威爾遜
形創(chuàng) 三維掃描測(cè)量
萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
鼎竑離子減薄
EM科特 臺(tái)式掃描電鏡
美墨爾特
微曠 高性能原位X射線CT
島津Shimadzu 色譜
島津Shimazu 元素分析與光譜儀
島津Shimazu 表面分析
島津Shimadzu 物理性分析
島津Shimadzu 無(wú)損檢測(cè)
TQC /SHEEN涂料測(cè)試
其他設(shè)備
金相切片耗材
LEICA EM TXP是一款*的可對(duì)目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位的表面處理工具,特別適合于SEM,TEM及LM觀察之前對(duì)樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高難度樣品,如需要對(duì)目標(biāo)精細(xì)定位或需對(duì)肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進(jìn)行定點(diǎn)處理。有了 Leica EM TXP,這些工作就可輕松完成。

與觀察體系合為一體

在顯微鏡下觀察整個(gè)樣品處理過(guò)程和目標(biāo)區(qū)域   將樣品固定在樣品懸臂上,在樣品處理過(guò)程中,通過(guò)立體顯微鏡可對(duì)樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察,觀察角度0°至60°可調(diào),或者調(diào)至 -30°,則可通過(guò)目鏡標(biāo)尺進(jìn)行距離測(cè)量。Leica EMTXP 還帶有明亮的環(huán)形LED光源照明,以便獲得高品質(zhì)的視覺(jué)觀察效果。
> 對(duì)微小目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位和樣品制備
> 通過(guò)立體顯微鏡實(shí)現(xiàn)原位觀察
> 多功能化機(jī)械處理
> 自動(dòng)化樣品處理過(guò)程控制
> 可獲得平如鏡面的拋光效果
> LED 環(huán)形光源亮度可調(diào),4分割區(qū)段可選

 

為微尺度制樣而生

對(duì)毫米和微米尺度的微小目標(biāo)進(jìn)行定位、切割、研磨、拋光是一項(xiàng)具有挑戰(zhàn)性的工作,主要困難來(lái)自:
> 目標(biāo)太小,不容易觀察
> 精確目標(biāo)定位,或?qū)δ繕?biāo)進(jìn)行角度校準(zhǔn)很困難
> 研磨、拋光到目標(biāo)位置常需花費(fèi)大量人力和時(shí)間
> 微小目標(biāo)極易丟失
> 樣品尺寸小,難以操作,往往不得不鑲嵌包埋

一體化顯微觀察及成像系統(tǒng)

Leica M80 立體顯微鏡
> 平行光路設(shè)計(jì):通過(guò)*主物鏡形成平行光路,焦平面*
> 高倍分辨率:所有變倍比下都有的圖像質(zhì)量和穩(wěn)定的光強(qiáng)
> 人體工學(xué)設(shè)計(jì):使用舒適度高,無(wú)肌肉緊張感和疲勞感
Leica IC80 HD 高清攝像頭*
> 無(wú)縫設(shè)計(jì):安裝在光學(xué)頭和雙目筒之間,無(wú)需添加顯像管或光電管
> 高品質(zhì)圖像:與顯微鏡共軸光路確保圖像質(zhì)量及獲得無(wú)反光圖像
> 提供動(dòng)態(tài)高清圖像,連接或斷開(kāi)計(jì)算機(jī)均可使用
4 分割區(qū)段亮度可調(diào) LED 環(huán)形光源
> 不同角度照明顯露樣品微小細(xì)節(jié)

多種方式制備處理樣品

樣品無(wú)需轉(zhuǎn)移,只需切換工具
不需要來(lái)回轉(zhuǎn)移樣品,只需要簡(jiǎn)單地更換處理樣品的工具就可完成樣品處理過(guò)程,并且樣品處理全過(guò)程都可通過(guò)顯微鏡進(jìn)行實(shí)時(shí)觀察。出于安全考慮,工具和樣品所在的工作室?guī)в幸粋€(gè)透明的安全罩,可避免在樣品處理過(guò)程中操作者不小心觸碰到運(yùn)轉(zhuǎn)部件,又可防止碎屑飛濺。
LEICA EM TXP可對(duì)樣品進(jìn)行如下處理:
> 銑削
> 切割
> 研磨
> 拋光
> 沖鉆

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