Dimension Icon AFM性能和效率的定義

Bruker Dimension® Icon™ 原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來了全新的ＡＦＭ應(yīng)用體驗(yàn)，其測(cè)試功能強(qiáng)大，操作簡便易行。仍然以世界上應(yīng)用廣泛的AFM大樣品平臺(tái)為基礎(chǔ)，齊集 Dimension系統(tǒng)數(shù)十年的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，廣大客戶反饋，結(jié)合工業(yè)領(lǐng)域的設(shè)備需求，進(jìn)行全面革新。全新的系統(tǒng)設(shè)計(jì)，實(shí)現(xiàn)了*的低漂移和低噪音水平，現(xiàn)在用戶只需要幾分鐘就可獲得真實(shí)準(zhǔn)確的掃描圖像。Dimension Icon還配備了Bruker技術(shù)ScanAsyst™ （自動(dòng)成像參數(shù)優(yōu)化技術(shù)），用戶可以更簡易、更快捷地獲得重復(fù)性更好的數(shù)據(jù)，并且降低了對(duì)客戶操作經(jīng)驗(yàn)和操作水平的要求。作為目前配置的AFM，保證客戶高效完成所需的檢測(cè)任務(wù)。

性能

•*的傳感器設(shè)計(jì)，在閉環(huán)條件下，也能實(shí)現(xiàn)大樣品臺(tái)、針尖掃描的AFM具有與開環(huán)噪音水平一樣的低噪音水平，且具有超高的掃描分辨率。
•*地降低噪聲水平，接觸模式下可獲得原子級(jí)圖像，在輕敲模式下低于30pm

•熱漂移速率低于200pm/分鐘，真正獲得無曲圖像

無以倫比的效率
•XYZ閉環(huán)掃描器的新設(shè)計(jì)，使儀器在較高掃描速度工作時(shí)，也不降低圖像質(zhì)量，具有更大的數(shù)據(jù)采集效率。
•將十年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)融入到參數(shù)預(yù)設(shè)置中，在新的NanoScope® 軟件帶有默認(rèn)的實(shí)驗(yàn)?zāi)Ｊ健?/span>
•高分辨率相機(jī)和X-Y定位可快速、高效地找到樣品測(cè)量位置

多功能性

 

• 針尖和樣品之間的開放式空間，不僅可以進(jìn)行各種標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)，也可以自行設(shè)計(jì)實(shí)驗(yàn)方案，滿足不同研究工作的需求

• 硬件和軟件技術(shù)方面的不斷創(chuàng)新，新開發(fā)的HarmoniX 模式，可以測(cè)量納米尺度上材料性質(zhì)

• 用戶實(shí)用程序腳本提供半自動(dòng)測(cè)量和數(shù)據(jù)分析

性能

Dimension® Icon™優(yōu)秀的分辨率，與Bruker*的電子掃描算法相結(jié)合，顯著提升了測(cè)量速度與質(zhì)量。Dimension® Icon™是針尖掃描技術(shù)的革新，一直處于工業(yè)*地位的，配置溫度補(bǔ)償位置傳感器，實(shí)現(xiàn)了Z軸亞埃級(jí)和XY軸埃級(jí)的低噪音水平，將這個(gè)性能應(yīng)用在90微米掃描范圍、大樣品臺(tái)系統(tǒng)上，效果甚至超過高分辨率原子力顯微鏡的開環(huán)噪音水平。XYZ閉環(huán)掃描頭的新設(shè)計(jì)使儀器在較高掃描速度工作時(shí)，圖像質(zhì)量也不會(huì)被損壞，實(shí)現(xiàn)了更大的數(shù)據(jù)采集輸出量。

表現(xiàn)

使用Dimension系列原子力顯微鏡發(fā)表文章數(shù)目遠(yuǎn)比其他大樣品臺(tái)原子力顯微鏡要多，成為研究領(lǐng)域非常受歡迎的原子力顯微鏡型號(hào)之一。Dimension Icon中，在原有的操作平臺(tái)上引入新技術(shù)，展現(xiàn)出更高的性能和更快的測(cè)量結(jié)果獲得。其軟件的直觀工作流程，使其操作過程比以往*的AFM技術(shù)更加簡便。Dimension Icon用戶可以立即獲得高質(zhì)量的結(jié)果，而無需像以前一樣通常需要幾小時(shí)的專業(yè)調(diào)整。Dimension Icon的每個(gè)方面—從*開放式針尖樣品空間，到預(yù)軟件參數(shù)設(shè)置—都經(jīng)過特殊設(shè)計(jì)以求達(dá)到無障礙操作和驚人的AFM易用性。

世界上靈活的平臺(tái)

Dimension Icon展現(xiàn)出的的性能，堅(jiān)固度和靈活度幾乎可以實(shí)現(xiàn)以前只有在特制的系統(tǒng)中才能完成的所有測(cè)量。利用開放式平臺(tái)，大型或多元樣品支架和許多簡單易用的性能，把AFM的強(qiáng)大功能*展現(xiàn)在科研領(lǐng)域和工業(yè)領(lǐng)域的研究者面前，為高質(zhì)量AFM成像和納米操作設(shè)定了新的標(biāo)準(zhǔn)。

強(qiáng)大的AFM控制器

通過NanoScopeV控制器，Dimension Icon能夠同時(shí)顯示和捕捉多達(dá)8幅圖像，并獲得在AFM針尖掃描大樣品時(shí)從未有過的信噪比。NanoScopeV作為第五代控制器，可以在8個(gè)渠道同時(shí)提供高速數(shù)據(jù)采集和高像素點(diǎn)成像(5120 x 5120)功能，允許研究者在時(shí)域上記錄和分析針尖-樣品相互作用時(shí)發(fā)生的納米級(jí)事件，這是AFM以前從未實(shí)現(xiàn)過的。
直觀圖形用戶界面可立即顯示八通道和廣大的控制器功能。左邊的圖像顯示的是在閉環(huán)模式下獲得三嵌段共聚物的形貌圖，5K x5K數(shù)據(jù)點(diǎn)，10μm掃描范圍。右邊的是放大到500nm范圍的圖像。

技術(shù)參數(shù)