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ICPS-8100等離子體發(fā)射光譜儀
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更新時(shí)間:2024-10-19 21:00:07

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標(biāo)樂
徠卡Leica 顯微鏡
徠卡Leica 電鏡制樣
威爾遜
形創(chuàng) 三維掃描測量
萊馳RETSCH 粉碎、研磨、篩分
麥奇克萊馳MICROTRAC MRB 粒度粒形分析儀
埃爾特ELTRA 碳 / 氫 / 氧 / 氮 / 硫元素分析儀
卡博萊特蓋羅Carbolite Gero 高溫箱爐
鼎竑離子減薄
EM科特 臺(tái)式掃描電鏡
美墨爾特
微曠 高性能原位X射線CT
英斯特朗Instron 力學(xué)測試
島津Shimadzu 色譜
島津Shimazu 元素分析與光譜儀
島津Shimazu 表面分析
島津Shimadzu 物理性分析
島津Shimadzu 無損檢測
TQC /SHEEN涂料測試
其他設(shè)備
金相切片耗材
ICPS-8100是順序掃描型ICP,具有高分辨率,更適用于基體復(fù)雜的樣品,如稀土、鉬、鎢等。ICPS-8100可對目標(biāo)分析物提供精確至痕量水平的高分辨率分析,并且不受干擾物質(zhì)或者主要成分的影響。

 ICPS-8100是順序掃描型ICP,具有高分辨率,更適用于基體復(fù)雜的樣品,如稀土、鉬、鎢等。ICPS-8100可對目標(biāo)分析物提供精確至痕量水平的高分辨率分析,并且不受干擾物質(zhì)或者主要成分的影響。


產(chǎn)品的特點(diǎn)

雙順序掃描型單色器裝置確保尖銳的譜線和穩(wěn)定性
這是一款高性能的ICP發(fā)射光譜儀,配置了順序型雙單色器,擁有高分辨率及快速的特點(diǎn),并且提供了多種的進(jìn)樣系統(tǒng)。儀器易于操作,適用于研發(fā)和質(zhì)量控制。
高分辨率(0.0045 nm)

高分辨率可滿足金屬、稀土和土壤分析的要求,可對目標(biāo)分析物提供精確至痕量水平的高分辨率分析,并且不受干擾物質(zhì)或者主要成分的影響。
真空型光室可提供*穩(wěn)定的測量

真空光室可對S, B, I, Al和其他在真空紫外線區(qū)域擁有超高靈敏度分析線的成分進(jìn)行高靈敏度分析。由于不需要?dú)怏w吹掃,因此可減少氣體對流時(shí)的波動(dòng)和污染。所需穩(wěn)定時(shí)間短,并能確保長時(shí)間分析的穩(wěn)定性。
簡單分析


分析鐵中的鋅和砷。
登記樣品名稱并用已設(shè)定好的分析條件開始分析。分析條件很容易改變,并可設(shè)置到常規(guī)條件中。分析結(jié)果可用商業(yè)軟件以報(bào)告的形式打開。

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