青島聚創(chuàng)美家環(huán)保技術(shù)有限公司
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植物冠層分析儀*

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號

品       牌聚創(chuàng)環(huán)保

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地青島市

更新時(shí)間:2019-02-22 16:49:10瀏覽次數(shù):1457次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
儀器類型 便攜式 儀器原理 其它原理
植物冠層分析儀*采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式

一、植物冠層分析儀*產(chǎn)品參數(shù)
鏡頭角度:150°(特殊需求可自選180°鏡頭)
分辨率:768×494pix
測量范圍:天頂角由0°~75°(可分割成十個(gè)區(qū)域);方位角360°(可分割 十個(gè)區(qū)域)
PAR感應(yīng)范圍:感應(yīng)光譜400nm~ 700nm
測量范圍:0~2000μmol/㎡•S
電 源:7.4V鋰電池組
傳輸接口:USB
工作溫度:0~55℃
二、
植物冠層分析儀*使用
1:采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理。它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律,在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,采用半理論半經(jīng)驗(yàn)的公式,通過冠層孔隙率的測定,計(jì)算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)。采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。
2:1.非破壞性地測定冠層結(jié)構(gòu)2.可以測量冠層內(nèi)外的光合有效輻射(PAR)3.手持式萬向接頭自動(dòng)水平調(diào)整探頭,4.隨身攜帶的筆記本計(jì)算機(jī)可以幫助你正確選點(diǎn)取樣,即時(shí)決定圖像的取舍5.由計(jì)算機(jī)電池提供電源極其輕便、便于觀測,尤其適合完成野外繁重的觀測任務(wù)6. 圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區(qū)域(天頂角可分10區(qū),方位角可分10區(qū))。對不同方向的冠層進(jìn)行區(qū)域性分析時(shí),可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分(如缺株、邊行問題等)。對不同天頂角起始角和終止角的選擇,可以避開不符合計(jì)算該冠層結(jié)構(gòu)參數(shù)的冠層孔隙條件 7.通過USB接口直接將測點(diǎn)圖像顯示在計(jì)算機(jī)上,可以在野外即時(shí)觀察圖像,選擇合理的測點(diǎn),將圖像存貯。8.半球圖象上可以設(shè)計(jì)任何地點(diǎn)、任何時(shí)間的太陽視運(yùn)動(dòng)軌跡,以及冠層內(nèi)任意時(shí)刻的受光狀況。

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