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UV755B-掃描型紫外分光光度計
  • UV755B-掃描型紫外分光光度計
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貨物所在地:山東青島市

地: 山東省青島市李滄區(qū)

更新時間:2024-06-19 21:00:07

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掃描型紫外分光光度計是微機控制的紫外可見近紅外光譜范圍的新一代普及型儀器。可滿足于科研、制藥、生化、環(huán)保、食品、化工及冶金等系統(tǒng)對各種物質進行定量分析,具有很高的性能價格比,是你理想的選擇

一、掃描型紫外分光光度計產品參數(shù)
1、波長驅動:自動
2、波長范圍:200-1100nm
3、波長準確度:±1nm
4、波長重復性:0.2nm
5、光譜帶寬:2nm
6、透色比準確度:±0.5%T
7、透色比重復性:0.2%T
8、透色比范圍:0.0-200%T
9、吸光度范圍:-0.30-3.0A
10、濃度顯示范圍:0-1999
11、雜 散 光:0.2%T@220nm、360nm
12、穩(wěn) 定 性:±0.002A/小時 @500nm
13、Rs232通訊:有
14、打 印 機:配備
15、分析軟件:支持
二、
掃描型紫外分光光度計產品特點
1、采用51微機系統(tǒng),可存儲標準曲線和測試數(shù)據(jù)。
2、儀器具有智能故障診斷功能,提供斷電保護。
3、儀器內置定量分析軟件,方便用戶操作使用。
4、提供RS232接口,可連接計算機或者直接連接打印機。
5、自動光門、保證光電傳感器的使用壽命、儀器測試更加簡單。
三、校正方法
紫外分光光度計的校正方法:分光光度法的重要的一個物理化學量是吸光度。為了獲得準確的研究結果,準確測得樣品溶液的吸光度是非常重要的。一般,分析結果的不可靠性與偶然誤差和系統(tǒng)誤差有關。偶然誤差影響測量的精密度,可通過足夠數(shù)量測量的統(tǒng)計處理來減少;系統(tǒng)誤差影響測量結果的準確度,可在大體相同實驗條件下,用比較一種物質的準確測量結果,使系統(tǒng)誤差統(tǒng)一起來。而分光光度計的系統(tǒng)誤差(波長校正、分光光度計的慢散光、放大器的線性響應、暗電流和比色皿的光程)和操作誤差(溫度改變、儀器讀數(shù)、操作者的改變、使用物質的純度、稱量和濃度、pH)對測量吸光度的影響是可以檢查和校正的。關于操作誤差,多數(shù)情況下,通過嚴格按操作程序測量、儀器調零、準確稱量等來控制或減少這種誤差的產生。關于儀器的系統(tǒng)誤差,可通過對分光光度計的定期校正來克服,若所需準確度很高的測量,則必須天天校正。
校正內容:
1、波長的準確度試驗 以儀器顯示的波長數(shù)值與單色光的實際波長值之間誤差表示,應在±1.0nm范圍內。可用儀器中氘燈的486.02nm與656.10nm譜線進行校正;
2、吸收度的準確度試驗;
3、雜散光的試驗;
4、波長重現(xiàn)性試驗;
5、分辨率試驗。
吸光度的校正方法:校正吸光度常用一很純物質一定濃度的溶液為標準,且此溶液的吸光度系數(shù)經不同實驗室核對,為了使標準液吸光度不受測定波長的微移動而有改變,常選擇具有較平滑吸收高峰的物質,同時要求溶液穩(wěn)定,且在相當?shù)牟ㄩL范圍內吸收度的改變符合Beer-Lambert定律,常用硫酸銅、硫酸銨鈷和硝酸鈉或鉀的溶液。鉻酸鉀溶液是常用的標準溶液,此溶液在紫外區(qū)和可見區(qū)均適用。
波長或波數(shù)的校正方法:可用具有窄吸收帶的溶液,濾光片或蒸氣來校正所需要的光波范圍。如果要求很高的精密度時,可用放電燈泡發(fā)射的射線來校正。有的光譜儀其上已裝有一個為校正用的燈。苯的蒸氣對校正一定范圍的波長亦很有用,可用一小滴苯放于一厘米厚的吸收杯中,測其吸收波長,在遠紫外區(qū)可用氧氣的吸收帶進行校正。用各種稀土金屬的濾光片,可以很快地校正波長,但準確度不如上述方法高。常用含有鈥和釹、鐠離子的濾光片。
雜散光的校正方法:小量的雜散光往往會引起較大的測量誤差,它的校正可用一個能*吸收某一波長單色光,且在其他波長吸收很弱的溶液。從這個溶液所表現(xiàn)的透光情況可推測雜散光的近似值。由雜散光帶來的偽吸收帶,亦可用Beer-Lambert定律來檢查,但用此定律檢查偽吸收帶誤差較大。由切斷范圍之外所表現(xiàn)的透射比可得出近似的雜散光百分數(shù)。若所含雜散光大于0.1%,應設法減低,或對測得的吸收光度進行校正。由雜散光引起的誤差與雜散輻射成正比,因此校正值很容易從化合物的近于正確的曲線計算而得。此外,還可用一個適當?shù)臑V光片,該濾光片在測定波長范圍內*透光,但吸收此范圍外的光波,由此來消除雜散光。

 

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