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目錄:蘇州金合博源測控技術(shù)有限公司>>元件測試儀 益和/BK/GEN3>>吉時(shí)利 高阻計(jì)/靜電計(jì) 6517B>> 6517B吉時(shí)利KEITHLEY 高阻計(jì)/靜電計(jì)6517B

吉時(shí)利KEITHLEY 高阻計(jì)/靜電計(jì)6517B
  • 吉時(shí)利KEITHLEY 高阻計(jì)/靜電計(jì)6517B
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 品牌 TeKtronix/美國泰克
  • 型號 6517B
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 蘇州市
屬性

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更新時(shí)間:2024-07-17 18:58:41瀏覽次數(shù):3422評價(jià)

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吉時(shí)利KEITHLEY 高阻計(jì)/靜電計(jì)6517B 提供的精度和靈敏度指標(biāo)是高于其他同類型儀表。它豐富的功能使測量高阻和絕緣材料電阻率變得簡單。 吉時(shí)利KEITHLEY 6517B具有425讀數(shù)/秒的讀數(shù)率,比同類型的靜電計(jì)顯著的快,可以提供快速、簡易的方式測量弱電流。

 

吉時(shí)利KEITHLEY 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì)

一、產(chǎn)品簡介:

吉時(shí)利KEITHLEY 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì)是一個新版本,取代了較早型號6517A(1996年推出)。Model 6517A的應(yīng)用軟件使用SCPI語言命令可以在Model 6517B上不做任何修改的運(yùn)行。不過,Model 6517B較 Model 6517A提供了一些有益的改進(jìn)和升級, 其內(nèi)部備份電池內(nèi)存緩沖區(qū)現(xiàn)在可以存儲多達(dá)50,000讀數(shù),使用戶能夠記錄更長時(shí)間的測試結(jié)果,并存儲更多的數(shù)據(jù)和讀數(shù)。新的Model還可提供至內(nèi)部 緩沖器(高達(dá)425讀數(shù)/秒的讀數(shù)率)以及通過IEEE總線至外部存儲器的更高讀數(shù)率(高達(dá)400讀數(shù)/秒的讀數(shù)率)。一些連接器的修改已列入解決現(xiàn)代連 接和安全要求

二、主要參數(shù):
吉時(shí)利KEITHLEY 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì) 簡要參數(shù):
電阻測量可達(dá)1016Ω
電流測量范圍1fA-20mA
小電流量程輸入壓降<20µV

200TΩ輸入阻抗

<3fA偏置電流
高達(dá)425rdgs/s
噪聲0.75fA p-p
內(nèi)置±1kV電源
*的高電阻測量電壓反接方法
可選的插件式掃描卡 Tel:86-755-22934005 
 

三、選型表:
 

型號 電流 電壓 電阻 充電
6514 10aA - 100mA 10µV - 200V 10m? - 200G? 10fC - 20μC  
6517B   100aA - 20mA 10µV - 200V 100? - 10P? 10fC - 2μC 0 - ±1000V
6430 10aA - 100mA 1µV - 200V 1µ? - >20T?   0 - ±200V Tel:86-755-22934005 
0 - ±100mA

 
 

6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì) 特點(diǎn) 6517B 高阻計(jì)/靜電計(jì) 優(yōu)勢
超低噪聲(6430 為 0.4fAp-p,6517B 和 6514 <1fA) 確保對設(shè)備和材料研究中常見的低電流實(shí)現(xiàn)精確的測量。
可達(dá) 1016? 的電阻測量 (6517B) 精確測量超高電阻材料和絕緣體。
遠(yuǎn)程預(yù)放大器可以位于信號源 (6430) 允許直接或短暫連接到信號源,大限度地減少電纜噪聲等噪聲源。
低輸入端壓降 消除影響低電流測量精度的誤差。
內(nèi)置 ±1kV 電壓源,提供掃描功能 (6517B) 簡化了執(zhí)行泄漏、擊穿和電阻測試,以及對高電阻率材料執(zhí)行體積 (?-cm) 和表面電阻率 (?/square) 測量的過程。
適用于測量試樣材料的體積和表面電阻的選配 8009 型電阻率測試盒 (6517B) 防止您接觸潛在危險(xiǎn)電壓 — 打開測試盒蓋子時(shí)自動關(guān)閉儀器的電壓源。
即使在低電平信號上也能實(shí)現(xiàn)很好的測量速度 支持低電平元器件測試。
可編程數(shù)字 I/O 和內(nèi)置接口 簡化構(gòu)建自動化元器件測試系統(tǒng)的過程。

 

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