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PE高性能ICP-OES及其應(yīng)用

閱讀:350          發(fā)布時(shí)間:2018-12-30
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五屆原子光譜大會(huì)上珀金埃爾默的資深產(chǎn)品專家高光曄老師帶來(lái)了題為“高性能ICP-OES及其應(yīng)用” 的報(bào)告,他介紹了與普通光譜儀*不同的高性能電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(HP-ICP-OES)儀器類型及其測(cè)試方法,可實(shí)現(xiàn)相對(duì)擴(kuò)展不確定度優(yōu)于0.1% 。

 

PE高性能電感耦合等離子體發(fā)射光譜法(HP-ICP-OES),其中一個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)在于如何校正 ICP-OES儀器測(cè)量的漂移,從而降低測(cè)量的不確定度,另一個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)是高性能 ICP-OES 的儀器硬件要求。HP-ICP-OES 可以與傳統(tǒng)分析(重量和滴定法)一樣進(jìn)行主量測(cè)定和微量測(cè)定,通常直接引入到儀器的濃度為10mg/kg,并且干擾元素濃度不足以形成干擾,所以也*。相對(duì)傳統(tǒng)分析,HP-ICP-OES 的自動(dòng)化使得增加樣品中的分析元素成本幾乎不會(huì)增加。

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