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戴安ICS-5000+高壓離子色譜系統(tǒng)品牌 詳細(xì)摘要:Thermo Scientific Dionex ICS-5000+ HPIC高壓離子色譜:世界上*毛細(xì)管高壓、“只加水"離子色譜系統(tǒng)。
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瑞士萬通883離子色譜儀價(jià)格 詳細(xì)摘要:883全自動(dòng)離子色譜系統(tǒng)是瑞士萬通譜峰思維系列離子色譜850、881、882之后推出的全新型號(hào),作為該系列中體型小的一員,在功能上卻毫無妥協(xié)。
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PE熱重-氣質(zhì)聯(lián)用儀TG-GC/MS廠家 詳細(xì)摘要:將熱重分析儀(TGA)與質(zhì)譜儀聯(lián)用可以檢測到非常低含量的雜質(zhì),這一手段越來越受歡迎。
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珀金埃爾默TG-hiden MS熱重-質(zhì)譜聯(lián)用儀價(jià)格 詳細(xì)摘要:將熱重分析儀(TGA)與質(zhì)譜儀聯(lián)用可以檢測到非常低含量的雜質(zhì),這一手段越來越受歡迎。通過熱重加熱樣品,樣品會(huì)因揮發(fā)物的存在或者燃燒分解出氣體,這些氣體被傳輸?shù)劫|(zhì)譜儀中,加以識(shí)別。
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珀金埃爾默熱重-質(zhì)譜聯(lián)用儀廠家TG-MS 詳細(xì)摘要:珀金埃爾默熱重-質(zhì)譜聯(lián)用儀TG-MS將熱重分析儀(TGA)與質(zhì)譜儀聯(lián)用可以檢測到非常低含量的雜質(zhì),這一手段越來越受歡迎。
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Agilent 7850 ICP-MS質(zhì)譜儀 詳細(xì)摘要:Agilent 7850 ICP-MS 是建立在數(shù)十年的技術(shù)創(chuàng)新和成功商業(yè)應(yīng)用基礎(chǔ)上,儀器內(nèi)置上百個(gè)傳感器并配合直觀的軟件功能,是全新一代智能化 ICP-MS 系統(tǒng)。
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安捷倫Cary3500紫外可見分光光度計(jì) 詳細(xì)摘要:創(chuàng)新的Agilent Cary 3500 紫外-可見分光光度計(jì)具有優(yōu)異的光度測量性能和眾多*的測量功能,將為您的實(shí)驗(yàn)室?guī)碜兏铩H碌脑O(shè)計(jì)理念,旨在有效簡化您的實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)并增強(qiáng)測試結(jié)果的可靠性。
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UH5700-日立紫外可見近紅外分光光度計(jì) 詳細(xì)摘要:1.190~3300nm的寬波長,支持紫外-可見-近紅外區(qū),滿足更多測定需求。 2.秉承日立優(yōu)異的光柵制造技術(shù),使用具有日立蝕刻衍射光柵,衍射效率高,散射光量低,極大提高測光范圍。 3.自動(dòng)可變狹縫設(shè)計(jì),根據(jù)樣品在不同波長處的光量自動(dòng)設(shè)定狹縫,實(shí)現(xiàn)紫外-可見-近
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F-4700-日立熒光分光光度計(jì) 詳細(xì)摘要:日立熒光分光光度計(jì)F-4700是在前代機(jī)型F-4600的基礎(chǔ)上更新升級(jí),基本性能得到了進(jìn)一步提升。靈敏度和波長掃描速度是選擇熒光分光光度計(jì)的兩個(gè)重要因素,F(xiàn)-4700與前代機(jī)型相比,靈敏度和掃描速度分別提高了1倍。與此同時(shí),F(xiàn)-4700 采用長壽命氙燈,與前代機(jī)型使
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EEM View-日立熒光分布成像系統(tǒng) 詳細(xì)摘要:為熒光分光光度計(jì)的配件系統(tǒng),這是將相機(jī)與熒光分光光度計(jì)的結(jié)合,融合了智能算法的先進(jìn)技術(shù)。能夠同時(shí)獲取樣品圖像和光譜信息。
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NexION® 5000-珀金埃爾默多重四極桿等離子體質(zhì)譜儀ICP-MS 詳細(xì)摘要:NexION 5000是業(yè)界多重四極桿ICP-MS,由四組四極桿組成,其性能超越了傳統(tǒng)的三重四極桿技術(shù),無論是在背景等效濃度還是在檢出限,NexION 5000都比傳統(tǒng)的三重四極桿有數(shù)量級(jí)上的改善。
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EXSTARTG/DTA6000系列-日立綜合熱分析儀TG/DTA 詳細(xì)摘要:精工是水平雙臂式TG/DTA技術(shù)的,EXSTAR系列TG/DTA以其性能及出色的性價(jià)比贏得了包括清華大學(xué)、北京大學(xué)、中科院、索尼、普利斯通等國內(nèi)外眾多用戶的青睞及好評(píng),可以通過檢測每一步的樣品質(zhì)量損失來完成分解溫度、組分分析、可燃性、氧化穩(wěn)定性、相轉(zhuǎn)變溫度及
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PY-ASI-賽多利斯酸度計(jì)電極PB-10/PB-21 詳細(xì)摘要:Satorius賽多利斯原裝電極,型號(hào)為PY-ASI,適合于酸度計(jì)PB-10和PB-21,UB-7和UB-10,帶溫度探頭的三合一復(fù)合電極,酸度計(jì)PH電極,原裝*,安全耐用。
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PY-ASI-賽多利斯酸度計(jì)電極UB-7/UB-10 詳細(xì)摘要:Satorius賽多利斯原裝電極,型號(hào)為PY-ASI,適合于酸度計(jì)PB-10和PB-21,UB-7和UB-10,帶溫度探頭的三合一復(fù)合電極,酸度計(jì)PH電極,原裝*,安全耐用。
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日立FT160鍍層測厚儀 詳細(xì)摘要:FT160配置部件,可以提供精細(xì)結(jié)構(gòu)上的超薄鍍層的元素分析。毛細(xì)管聚焦光學(xué)鏡能聚焦直徑小于30μm的X射線束,從而在樣品上集中更大強(qiáng)度且其可測量的部件尺寸小于傳統(tǒng)準(zhǔn)直器可測量的部件尺寸。高靈敏度、高分辨率日立分析儀器硅漂移探測器(SDD)充分利用光學(xué)系
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FT110A-日立鍍層測厚儀 詳細(xì)摘要:束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測試,在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體
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X-Strata920-日立X射線熒光鍍層測厚儀 詳細(xì)摘要:微束XRF涂層厚度和材料分析儀,方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗(yàn)證測試,在幾秒內(nèi)即可獲得準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)?;赬-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內(nèi)廣泛接受認(rèn)可的分析方法,提供易于使用、快速和無損的分析,幾乎不需要樣本制備,能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固
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EA1000VX-日立分析X射線熒光分析儀 詳細(xì)摘要:概要:對(duì)應(yīng)環(huán)境限制物質(zhì)管理、可快速且簡單測量有害物質(zhì)的X射線熒光分析儀。
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日立手持XRF土壤重金屬分析儀 詳細(xì)摘要:手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進(jìn)行快速的合金等級(jí)鑒定及多種材料(固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等)的準(zhǔn)確化學(xué)結(jié)構(gòu)分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單,可為您提供可靠的結(jié)果。
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Lab-X5000 日立臺(tái)式X射線熒光光譜儀 詳細(xì)摘要:XRF 分析(X射線熒光)與高度靈活和強(qiáng)大的能量色散X射線熒光 (EDXRF) 光譜儀 X-Supreme8000 和 Lab-X5000,在各種應(yīng)用中保證質(zhì)量和過程控制要求;例如原油和汽油、木材處理、礦物、采礦、化妝品、水泥和紙張。
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