詳細(xì)介紹
FlexSEM 1000日立高新掃描電子顯微鏡可對(duì)材料的表面進(jìn)行高倍率觀察及高精度元素分析,在納米技術(shù)、生命科學(xué)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)研發(fā)及失效分析等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。 近年來(lái),掃描電鏡觀察表面精細(xì)結(jié)構(gòu)及元素分析的需求日趨增加,而越來(lái)越多的用戶希望能在生產(chǎn)線、品保檢驗(yàn)線和辦公區(qū)等有限的空間里使用掃描電子顯微鏡。因此,體積小、操作簡(jiǎn)便、分辨率高的掃描電子顯微鏡備受關(guān)注。FlexSEM 1000主機(jī)寬450mm、長(zhǎng)640mm,相比SU1510型號(hào)體積減小52%,重量減輕45%,功耗減小50%,且配備標(biāo)準(zhǔn)化的電源接口。主機(jī)與供電單元可分離,安裝非常靈活。
FlexSEM 1000日立高新掃描電子顯微鏡采用新設(shè)計(jì)的電子光學(xué)系統(tǒng)和高可靠性、高靈敏度的探測(cè)器,分辨率高達(dá)4nm。FlexSEM 1000有多種自動(dòng)化功能,操作簡(jiǎn)便,即便是初次操作者也能快速拍出高質(zhì)量圖像。另外,新開(kāi)發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」可使用各種光學(xué)圖片或電鏡照片進(jìn)行導(dǎo)航,一鍵就快速精準(zhǔn)地切換至感興趣的高倍率視野。
FlexSEM 1000日立高新掃描電子顯微鏡特點(diǎn):
a. 通過(guò)高靈敏度二次電子探測(cè)器,背散射探測(cè)器,低真空探測(cè)器(UVD*2),實(shí)現(xiàn)低加速電壓/低真空下高質(zhì)量圖像觀察
b. 操作簡(jiǎn)捷,即使新手也能拍出高質(zhì)量的圖片
c. 新開(kāi)發(fā)的導(dǎo)航功能「SEM MAP」,便于快速鎖定視野
d. 大窗口(30 mm2)SDD能譜系統(tǒng),便于快速分析元素成分*2
*1 設(shè)置在桌面時(shí),分離主機(jī)和電源箱
*2 選配