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全面升級XU-100 X熒光光譜測厚儀高精尖檢測技術，搞定企業(yè)品質管控！XU-100是一款高性價比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。?檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm2，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比高。
XU-100是一款高性價比型鍍層測厚儀/膜厚測試儀/光譜測厚儀，采用下照式C型腔體設計，搭配微聚焦X射線發(fā)生器和高集成垂直光路系統(tǒng)，以及高敏變焦測距裝置，對各種大小異形件都可快速、精準、無損測量。?檢測各種金屬鍍層，檢出限可達0.005μm，最小測量面積0.2mm2，凹槽深度測量范圍可達0-30mm，是一款測量鍍層厚度性價比高、適用性強的機型。
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