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印刷表面粗糙度儀——PPS

紙和紙板——粗糙度/平滑度測(cè)定

國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定：銅板紙和新聞紙的平滑度要求用PPS來測(cè)定

為什么用PPS測(cè)量表面粗糙度？

    表面粗糙度是確定紙和紙板印刷適性的一個(gè)關(guān)鍵因素。在MESSMER BUCHEL公司的John Parker博士將PPS法推廣到造紙業(yè)界之前，為預(yù)測(cè)印刷適性，有許許多多的方法測(cè)量紙的表面粗糙度，而這些方法均不能令人滿意。Parker博士正確推理出為什么測(cè)量表面粗糙度的方法，是模擬印刷時(shí)印刷機(jī)上的條件來進(jìn)行之的表面粗糙度測(cè)量。

具體原理如下：紙樣夾在測(cè)頭和彈性襯墊之間，并受到相當(dāng)于實(shí)際印刷中咬合壓力一樣的壓力。在細(xì)金屬測(cè)量環(huán)和測(cè)量面內(nèi)，通過一定壓差下的氣流，測(cè)量該氣流的受到的阻尼（見圖1）。紙樣的表面粗糙度由狹縫內(nèi)氣流的平均立方根計(jì)算獲得（M590自動(dòng)計(jì)算）。特別是PPS的測(cè)量環(huán)及其周圍的狹縫寬度僅51微米，大大降低了紙的透氣性對(duì)測(cè)量的影響，而其他空氣泄漏法的儀器都不能避免這一影響。

為什么買MESSMER BUCHEL的PPS？

    非常簡(jiǎn)單——它是的！M590是MESSMER BUCHEL的第三代PPS。30年的PPS生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)和Parker博士的專業(yè)知識(shí)使我們成了PPS的技術(shù)核心。MESSMER BUCHEL采用了技術(shù)以保證測(cè)試的高可靠性和優(yōu)異的重復(fù)性，技術(shù)有所改進(jìn)，但原理仍舊一樣。在MESSMER BUCHEL PPS內(nèi)，微處理器的使用使測(cè)試界面更為友好，并能進(jìn)行測(cè)試統(tǒng)計(jì)，而不僅僅是給出測(cè)試結(jié)果。精確的設(shè)計(jì)細(xì)節(jié)，有力的質(zhì)量保證以及與標(biāo)準(zhǔn)的*性是我們的原則。測(cè)頭和襯墊之間的相對(duì)位置必須嚴(yán)格控制，因?yàn)樗鼘?duì)于測(cè)量結(jié)果的重復(fù)性有很大影響（見圖2）。MESSMER BUCHEL采用了特別U-形結(jié)構(gòu)，測(cè)頭調(diào)整和固定機(jī)械易于拆卸一邊清洗，但在測(cè)試中又絕不會(huì)移動(dòng)。模塊化結(jié)構(gòu)和內(nèi)置診斷規(guī)程保證了簡(jiǎn)便快速的維護(hù)，降低了維護(hù)費(fèi)用。作為我們的生產(chǎn)工序之一，每臺(tái)MESSMER BUCHEL PPS都經(jīng)過了*的測(cè)試和校準(zhǔn)?？諝庾枘釡y(cè)量系統(tǒng)可校準(zhǔn)，并且測(cè)量結(jié)果溯源到MESSMER BUCHEL主機(jī)。采購(gòu)之后，用戶可以用同樣的方法進(jìn)行常規(guī)復(fù)檢。流體阻抗（dummy head）和MESSMER BUCHEL的測(cè)試與校準(zhǔn)系統(tǒng)含在主機(jī)價(jià)格內(nèi)。

產(chǎn)品特點(diǎn)/規(guī)格：

Ø         M590 & M595型PPS由微處理器控制

Ø         M590和M595均通過ISO參照儀器的標(biāo)準(zhǔn)，

Ø         測(cè)量范圍：M595 高精度 0.5 – 3 μm

              M590 標(biāo)準(zhǔn)范圍 0.6 – 6μm

Ø         40字符2行熒光顯示屏，顯示操作指令和測(cè)量結(jié)果

Ø         測(cè)量結(jié)果以微米為單位，其結(jié)果與實(shí)際印刷中墨膜厚度的關(guān)系為：          墨膜厚度 = 2 → 2.5 x PPS結(jié)果

Ø         自動(dòng)統(tǒng)計(jì)分析

Ø         數(shù)據(jù)打印機(jī)

Ø         內(nèi)置診斷和校準(zhǔn)規(guī)程

Ø         RS232C V24串行輸出

Ø         可選灰塵清除系統(tǒng)

Ø         可選樣本探測(cè)

Ø         透氣度測(cè)試（測(cè)頭可選）

Ø         與TESTLINE / TESTLINK相兼容

Ø         獨(dú)到的溯源校準(zhǔn)

標(biāo)準(zhǔn)

測(cè)量范圍0.6 – 6微米，符合ISO 8791/4，TAPPI T555，BS 6563及SCAN標(biāo)準(zhǔn)和國(guó)標(biāo)