代理產(chǎn)品

顯微操作儀 核磁共振（NMR） 原子吸收光譜（AAS） 儀器鑒定用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 切片機(jī) 納米壓痕儀、劃痕儀 恒溫/加熱/干燥 樣品前處理

納米粒度儀

納米粒度儀DLS 90

接觸角測(cè)量?jī)x

高溫接觸角測(cè)量?jī)x 表面接觸角測(cè)試儀 接觸角測(cè)量?jī)x 國(guó)產(chǎn)接觸角 接觸角 經(jīng)濟(jì)型光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)xALPHA 動(dòng)態(tài)接觸角測(cè)量?jī)x 靜態(tài)水接觸角 光學(xué)接觸角 水滴角測(cè)試儀 自動(dòng)型接觸角分析儀

膜厚儀

白光干涉測(cè)厚儀

表面張力儀

全自動(dòng)表面張力儀

光譜部件及外設(shè)

光纖光譜儀

拉曼光譜儀

顯微共聚焦拉曼光譜儀 進(jìn)口拉曼光譜儀 手持拉曼光譜儀 便攜式拉曼儀器 CVRam顯微拉曼光譜儀 WITec RISE拉曼-掃描電鏡聯(lián)用系統(tǒng)

差示/熱重/差熱/熱分析

熱機(jī)械分析儀TMA7000系列 熱重-差熱同步分析儀-日立-STA7200

紅外光譜（IR、傅立葉）

PerkinElmer 紅外光譜儀 Spectrum Two 400/400N 傅里葉變換紅外/近紅外成像系統(tǒng)

掃描探針顯微鏡/原子力

高速共聚焦成像儀

激光粒度儀、納米粒度儀

界達(dá)電位 粒徑量測(cè)儀ELSZ-2000ZS Microtrac S3500SI圖像激光粒度分析儀 Microtrac S3500系列激光粒度分析儀 EKO DisperSizer DS-1 粒度分布分析器

低溫恒溫器

牛津儀器光學(xué)恒溫器 牛津儀器無(wú)液氦光譜學(xué)恒溫器Optistat Dry

熒光分光光度計(jì)（分子熒光

天美熒光分光光度計(jì) FL970 絕對(duì)量子效率測(cè)量系統(tǒng)Quantaurus-QY PF7/5/3系列原子熒光光度計(jì) 絕對(duì)量子效率測(cè)量系統(tǒng)

X射線衍射儀（XRD）

BRAGG系列X射線衍射儀 XD-2/XD-3/XD-6自動(dòng)X射線粉末衍射儀 PROTO AXRD Theta/Theta X射線衍射儀 PROTO AXRD 臺(tái)式X-射線衍射儀 海鷗- DRON-7（M）通用X射線晶體衍射儀 普析通用 XD6多晶衍射儀 普析通用 XD2/3系列多晶衍射儀

激光光散射儀

三維光散射儀LS 3D-DLS 一體式廣角靜態(tài)動(dòng)態(tài)同步激光散射儀

掃描電鏡（SEM）

原子力顯微鏡一體機(jī) FEG系列” 場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描電子顯微鏡 FEI “Quanta系列”環(huán)境掃描電子顯微鏡” FEI “Q系列”掃描電子顯微鏡 賽可 3200M 經(jīng)濟(jì)型臺(tái)式掃描電鏡

電化學(xué)工作站

多通道電化學(xué)工作站 單通道電化學(xué)工作站

X熒光光譜XRF能量色散型

X射線熒光光譜儀

分析儀器-光譜

顯微角分辨光譜儀 紫外可見(jiàn)分光光度計(jì)

透反射率測(cè)量?jī)x

透反射率測(cè)量?jī)xRT100

等離子清洗機(jī)

真空等離子清洗機(jī) 大氣常壓等離子清洗機(jī)

光學(xué)顯微鏡

位移臺(tái) 熒光顯微鏡 金相顯微鏡 體視顯微鏡

力學(xué)測(cè)試儀

水平力學(xué)試驗(yàn)機(jī) 扭矩試驗(yàn)機(jī) 萬(wàn)能材料試驗(yàn)機(jī)

表面/界面性能測(cè)定儀

粉末潤(rùn)濕性分析儀

其他品牌

貝拓科學(xué)

Hitachi/日立

Bruker/布魯克

OXFORD/英國(guó)牛津

Techcomp/天美