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大尺寸精密測量在日常中有以下幾種便捷的測量方法
閱讀：2571 發(fā)布時間：2019-8-16
在科學技術高度發(fā)展的今天，現(xiàn)代大尺寸精密測量技術對一個國家的發(fā)展起著十分重要的作用。如果沒有*的測量技術與測量手段，就很難設計和制造出綜合性能和單相性能均優(yōu)良的產(chǎn)品，更談不發(fā)展現(xiàn)代*，因此世界各個工業(yè)發(fā)達國家都很重視和發(fā)展現(xiàn)代大尺寸精密測量技術。
大尺寸精密測量的技術：
現(xiàn)代大尺寸精密測量技術是一門集光學、電子、傳感器、圖像、制造及計算機技術為一體的綜合性交叉學科，涉及廣泛的學科領域，它的發(fā)展需要眾多相關學科的支持。
在現(xiàn)代工業(yè)制造技術和科學研究中，測量儀器具有精密化、集成化、智慧化的發(fā)展趨勢。三坐標測量機（CMM）是適應上述發(fā)展趨勢的典型代表，它幾乎可以對生產(chǎn)中的所有三維復雜零件尺寸、形狀和相互位置進行高準確度測量。發(fā)展高速坐標測量機是現(xiàn)代工業(yè)生產(chǎn)的要求。同時，作為下世紀的重點發(fā)展目標，各國在微/納米測量技術領域開展了廣泛的應用研究。
大尺寸精密測量的測量方法說明：
1、根據(jù)獲得測量結果的不同方式可分為：直接測量和間接測量。從測量器具的讀數(shù)裝置上直接得到被測量的數(shù)值或對標準值的偏差稱直接測量。如用游標卡尺、外徑千分尺測量軸徑等。通過測量與被測量有一定函數(shù)關系的量，根據(jù)已知的函數(shù)關系式求得被測量的測量稱為間接測量。如通過測量一圓弧相應的弓高和弦長而得到其圓弧半徑的實際值。
2、測量和相對測量：測量器具的示值直接反映被測量量值的測量為測量。用游標卡尺、外徑千分尺測量軸徑不僅是測量，也是測量。將被測量與一個標準量值進行比較得到兩者差值的測量為相對測量。如用內徑百分表測量孔徑為相對測量。
3、接觸測量和非接觸測量：測量器具的測頭與被測件表面接觸并有機械作用的測力存在的測量為接觸測量。如用光切法顯微鏡測量表面粗糙度即屬于非接觸測量。
4、單項測量和綜合測量：對個別的、彼此沒有聯(lián)系的某一單項參數(shù)的測量稱為單項測量。同時測量個零件的多個參數(shù)及其綜合影響的測量。用測量器具分別測出螺紋的中徑、半角及螺距屬單項測量；而用螺紋量規(guī)的通端檢測螺紋則屬綜合測量。
5、被動測量和主動測量：產(chǎn)品加工完成后的測量為被動測量；正在加工過程中的測量為主動測量。被動測量只能發(fā)現(xiàn)和挑出不合格品。而主動測量可通過其測得值的反饋，控制設備的加工過程，預防和杜絕不合格品的產(chǎn)生。