美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀

美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀：
廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測量精度。

美國國家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所（  NIST ）使用一個(gè) TSI DMA 尺寸為 60 nm和 100 nm  的標(biāo)準(zhǔn)尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個(gè)經(jīng)確地粒徑檢測技術(shù)，沒有假設(shè)顆粒的形狀粒度分布而直接測量數(shù)濃度。該方法是獨(dú)立的顆?；蛄黧w的折射率，并具有高度的尺寸精度和測量重復(fù)性。  TSI 模型 3938  是粒徑譜儀的第三代；可信的研究人員超過 30 年。

美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)  

高分辨率數(shù)據(jù)：多達(dá) 167  個(gè)通道

廣泛的尺寸范圍：從 2.5 nm  到 1000 nm 

 ISO 15900:2009  兼容

快速測量：＜ 10  秒掃描

寬的濃度范圍內(nèi)， 10⁷  particles/cm³

大的靈活性組件的設(shè)計(jì)

無需電腦的操作， 觸摸屏控制

易于安裝與不安裝工具和自動(dòng)發(fā)現(xiàn)部件

離散粒子測量：適用于多模樣本

獨(dú)立的顆粒和流體的光學(xué)性質(zhì)

寬范圍的系統(tǒng)的選擇：水或丁醇計(jì)數(shù)器供選擇；傳統(tǒng)的或非放射性中和器的選擇

應(yīng)用  

納米技術(shù)研究和材料的合成

大氣研究和環(huán)境監(jiān)測

燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排氣的研究

室內(nèi)空氣質(zhì)量的測量

核 /  冷凝的研究

吸入毒理學(xué)研究

內(nèi)容包括  

靜電分類器與您選擇的 DMA  柱

可兼容六種 CPC 

氣溶膠儀器 ®  軟件經(jīng)理

數(shù)據(jù)采集計(jì)算機(jī)必須單獨(dú)購買。