項(xiàng)目名稱

Leeb231

測(cè)頭類型

N1

測(cè)量原理

電渦流

測(cè)量范圍

0 ~ 1250um

分辨率

0.1um

示值誤差

一點(diǎn)校準(zhǔn)

±（3%H+1）um

二點(diǎn)校準(zhǔn)

±[（1~3）%H+1]um

測(cè)試條件

小曲率半徑

凸1.5mm  凹9mm

小面積直徑

φ7mm

基本臨界厚度

0.5mm

工作環(huán)境

溫度

0 ~ 40℃

濕度

20% ~ 90%

電源

AA堿性電池2節(jié)

電壓

3V

工作時(shí)間

100小時(shí)

外形尺寸

130*70*25 mm

重量

350g

外殼材質(zhì)

金屬外殼

標(biāo)準(zhǔn)配置

主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)試片、基體、N1探頭、堿性電池

可選配件

標(biāo)準(zhǔn)試片、探頭

PC通訊

有

覆蓋層基體

有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆、琺瑯、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等）

非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）

覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

覆蓋層厚度超過(guò)100μm

覆蓋層厚度不超過(guò)100μm

覆蓋層厚度超過(guò)100μm

如鐵、鋼等磁性金屬

被測(cè)面積直徑大于30mm

F400型測(cè)頭0～400μm 
F1型測(cè)頭
0～1250μm

F1型測(cè)頭
0～1250μm 
F10型測(cè)頭
0～10μm

F400型測(cè)頭0～400μm 
F1型測(cè)頭
0～1250μm

F1型測(cè)頭
0～1250μm 
F10型測(cè)頭
0～10μm

被測(cè)面積直徑小于30mm

F400型測(cè)頭0～400μm

F400型測(cè)頭0～400μm 
F1型測(cè)頭
0～1250μm

F400型測(cè)頭0～400μm

F400型測(cè)頭0～400μm 
F1型測(cè)頭
0～1250μm

如銅、鋁、黃銅、鋅、錫等有色金屬

被測(cè)面積直徑大于10mm

N1型測(cè)頭0～1250μm
N400測(cè)頭0～400μm

僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0～40μm N400測(cè)頭0～40μm

被測(cè)面積直徑大于10mm

N400測(cè)頭0～400μm

N400測(cè)頭0～40μm

塑料、印刷線路非金屬基體

被測(cè)面積直徑大于7mm

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CN02型測(cè)頭10～200μm