核心優(yōu)勢(shì).ore strengths
配套自主知識(shí)產(chǎn)權(quán)XRD 數(shù)據(jù)分析軟件 包，可以完成物相鑒定及定量分析工作
較高的信噪比，提高采樣效率，數(shù)據(jù) 采集時(shí)間小于15~20 分鐘。 (半導(dǎo)體
樣品小于5分鐘)
良好光路系統(tǒng)設(shè)計(jì)，物相定量分析達(dá) 到臺(tái)式機(jī)的水平，檢出限大于3wt.%, 相對(duì)誤差優(yōu)于10%
選擇使用Mo 靶光源，能量更高，無(wú) 需換靶即可完成絕大部分晶體測(cè)試，且可提高樣品的裝填厚度
技術(shù)參數(shù)Technical paramete
X光管靶材 |
M o 靶 |
正常工作功率 |
20w(50kV,0.4mA) |
額定工作功率 |
50w(50kV,1.0mA) |
探測(cè)器 |
HPC二維探測(cè)器 |
探測(cè)器像素 |
1280*256 |
2-theta角度范圍 |
2.5-27.5° |
角分辨率 |
≈0.25°(FWHM` |
樣品量 |
≈15mc |
樣品粒度 |
<120μ m |
樣品采集時(shí)間 |
600-1200s |
外形尺寸 |
58cm×42cm×23cm |
凈重 |
≈20.0 kg |
工作環(huán)境條件 |
15-35℃ |
應(yīng) 用 案 例Application case
標(biāo)準(zhǔn)物測(cè)量：
對(duì)國(guó)際晶體學(xué)會(huì)(IUCr)提供的三組標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)進(jìn)行定量分析測(cè)試，結(jié)果如圖所示。IUCr 數(shù)據(jù)為樣品實(shí)際稱重
數(shù)據(jù)。
| IUCr | TopMINI |
Al?O? | 5.04 | 5.91 |
CaF | 1.36 | 1.98 |
ZnO | 93.59 | 92.11 |
從上述三組標(biāo)樣分析對(duì)比結(jié)果可以看出， TopMINI 的分析精度誤差<3%,檢出限為1%
分析結(jié)果見下圖。
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