日本倔場HORIBA高精度光澤度儀檢測儀IG-410

日本倔場HORIBA高精度光澤度儀檢測儀IG-410
光源使用近紅外光并測量1000的光澤度（100％鏡面反射率）。
它是一種方便的類型，只需將顯示單元和分離的測量單元放在主體上即可進行測量，以方便現(xiàn)場工作。
預熱是不必要的。
適用于需要高水平表面光澤的產(chǎn)品的質(zhì)量控制，例如用于照明的反射器，例如汽車前燈，復印機反射器和硅晶片。

特點

日本倔場HORIBA高精度光澤度儀檢測儀IG-410

 

• 即使在金屬等高光澤區(qū)域，也能量化“模糊”
  。在光澤檢測器IG系列的產(chǎn)品陣容中增加了能夠測量金屬等高光澤區(qū)域的IG-410。測量范圍從傳統(tǒng)型號的0到1000倍擴大到10倍。也可以測量鏡面樣品。
• 緊湊輕巧的設計，簡單的現(xiàn)場測量：
  僅350克，便于攜帶。由于它是一觸式操作，因此可以投入生產(chǎn)并輕松測量。
  無需擔心光源的壽命，因為它使用LED作為光源。
• 低光澤度也可以
  通過2范圍切換來測量，0到100，2范圍切換0到1000是可能的。每個系列都有自己的校準板。
  IG-410支持測量低光澤區(qū)域，例如涂在金屬板上的樣品以及高光澤金屬。

應用實例

• 用于完成金屬產(chǎn)品表面狀況的確認
• 用于檢查鋁和不銹鋼軋制板的外觀
• 檢查電鍍產(chǎn)品的外觀
• 用于確認硅晶片表面光潔度

※由于光澤度是通過光反射測量的，因此測量點必須是平坦的。

 

日本倔場HORIBA高精度光澤度儀檢測儀IG-410

 

光學系統(tǒng)	入射角60° - 接收角60°
測量區(qū)域	3x6mm橢圓
光源	LED（波長890納米）
光接收器	SPD（硅光電二極管）
測量范圍 （顯示分辨率）	100范圍：0.0到100.0（顯示分辨率0.1） 1000范圍：0到1000（顯示分辨率1）
重復性	滿量程的±1％
電源	AA干電池×4件
電池壽命	200小時以上（使用堿性電池）
工作溫度范圍	10至40°C
維	主體：75W x 34D x 140H mm  傳感器部件：30W x 45D x 88H mm
塊	大約350克（內(nèi)置電池時）
其他功能	自動校準，自動斷電 范圍切換顯示（100/1000） 超量程顯示，電池剩余量顯示 測量值保持 校準值設置
附件	校準標準板，適用于100范圍和1000范圍