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目錄:美譜勒科技（上海）有限公司>>三豐量具>>顯微鏡>> 三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡

三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡
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  • 三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡
  • 三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡
參考價(jià)212800
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

參考價(jià)：￥ 212800

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • MITUTOYO/日本三豐 品牌
  • 型號
  • 代理商 廠商性質(zhì)
  • 上海市 所在地
規(guī)格

WLI-Unit白光干涉/8000μm/4nm

屬性

產(chǎn)地類別:進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域:文體,電子,交通,電氣

>
規(guī)格
WLI-Unit白光干涉/8000μm/4nm212800元55件可售

更新時(shí)間：2025-02-21 15:51:16瀏覽次數(shù)：163評價(jià)

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三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡 ， 三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡原廠發(fā)貨

  三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡 ，  三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡原廠發(fā)貨

  三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡 ，  三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡原廠發(fā)貨

  產(chǎn)品特點(diǎn)與優(yōu)白光干涉光學(xué)顯微
● 實(shí)現(xiàn)非接觸式3D表面形狀測量和輪廓測量
可利用白光干涉原理實(shí)現(xiàn)非接觸式高精度細(xì)微表面性狀測量
（例如：3D形狀測量、3D粗糙度測量）
● 不依賴于光學(xué)倍率的高度測量精度
即使是低倍率鏡頭，也可使用Z向高分辨力進(jìn)行測量
● 高縱橫比測量
不依賴于光學(xué)系統(tǒng)的NA進(jìn)行檢測，支持高縱橫比形狀測量
● 抗干擾震動(dòng)的高穩(wěn)定性
● 小型輕便

  三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡 ，  三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡原廠發(fā)貨

產(chǎn)品陣容
型號           Z向移動(dòng)范圍    Z向分辨力
WLI-Unit-003   8000μm        -
WLI-Unit-005   8000μm        4nm
WLI-Unit-010   8000μm        4nm


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