紫外輻照計(jì)

主要性能指標(biāo)

※波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng):

uv-340探頭:λ:（315~370）nm;λp=340nm

※輻照度測(cè)量范圍:

（0.1~199.9×103）μw/cm2

※紫外帶外區(qū)雜光:

uv340:小于0.05%

※余弦特性:

符合國(guó)家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn)

※示值相對(duì)誤差:

紫外輻照計(jì) 紫外線強(qiáng)度檢測(cè)儀 型號(hào)：HD-uv-340型

該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

u主要性能指標(biāo)

※波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng):

uv-340探頭:λ:(315~370)nm;λp=340nm

※輻照度測(cè)量范圍:

(0.1~199.9×103)μw/cm2

※紫外帶外區(qū)雜光:

uv340:小于0.05%

※余弦特性:

符合國(guó)家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn)

※示值相對(duì)誤差:

±10%

※響應(yīng)時(shí)間:

1秒

※使用環(huán)境:

溫度(0~40)℃;濕度<85%rh

※尺寸和重量:

180mm×80mm×36mm;0.2kg

※電源:

9v積層電池(6f22型)一只

紫外輻照計(jì) 紫外線強(qiáng)度檢測(cè)儀 型號(hào)：HD-uv-340型

該儀器適用于光化學(xué)、高分子材料老化、紫外光源、大規(guī)模集成電路光刻等領(lǐng)域的紫外輻照度測(cè)量工作。

u主要性能指標(biāo)

※波長(zhǎng)范圍及峰值波長(zhǎng):

uv-340探頭:λ:(315~370)nm;λp=340nm

※輻照度測(cè)量范圍:

(0.1~199.9×103)μw/cm2

※紫外帶外區(qū)雜光:

uv340:小于0.05%

※余弦特性:

符合國(guó)家二級(jí)光照度標(biāo)準(zhǔn)

※示值相對(duì)誤差:

±10%

※響應(yīng)時(shí)間:

1秒

※使用環(huán)境:

溫度(0~40)℃;濕度<85%rh

※尺寸和重量:

180mm×80mm×36mm;0.2kg

※電源:

9v積層電池(6f22型)一只