反射測(cè)試儀

　　產(chǎn)品名稱：TR透反射測(cè)試儀（透、反測(cè)試）

　　產(chǎn)品介紹:

　　UV-2202PCSR反射測(cè)試儀的原理

　　它是一種基于光的反射現(xiàn)象進(jìn)行測(cè)量和分析的儀器。它通常由一個(gè)光源、反射樣品（如鏡子或反射鏡）、檢測(cè)設(shè)備和數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)組成。工作時(shí)，光源發(fā)出光線，經(jīng)過反射樣品后，被檢測(cè)設(shè)備接收并轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，之后通過數(shù)據(jù)處理系統(tǒng)分析和顯示結(jié)果。

　　反射測(cè)試儀的應(yīng)用

　　它在許多領(lǐng)域中都有廣泛的應(yīng)用。以下是其中幾個(gè)重要的應(yīng)用領(lǐng)域：

　　光學(xué)材料研究：可以幫助材料科學(xué)家研究和測(cè)試不同材料的反射特性，從而了解其光學(xué)性能和應(yīng)用潛力。這對(duì)于開發(fā)新型光學(xué)材料以及優(yōu)化現(xiàn)有材料的性能至關(guān)重要。

　　表面質(zhì)量檢測(cè)：可用于表面質(zhì)量的評(píng)估和檢測(cè)。通過分析反射光線的強(qiáng)度和分布，可以判斷表面的平整度、光滑度和缺陷情況。這在制造業(yè)中具有重要意義，可以幫助提高產(chǎn)品質(zhì)量和性能。

　　薄膜涂層分析：被廣泛用于對(duì)薄膜涂層進(jìn)行分析和表征。通過測(cè)量反射率和透過率的變化，可以確定薄膜的厚度、折射率和透明度等物理參數(shù)。這對(duì)于光學(xué)元件和涂層技術(shù)的研究與應(yīng)用至關(guān)重要。

　　反射測(cè)試儀的意義 反射測(cè)試儀作為一種光學(xué)工具，對(duì)于光學(xué)研究有著重要的意義：

　　深入理解光學(xué)現(xiàn)象：通過反射測(cè)試儀，我們可以觀察和分析光的反射現(xiàn)象，揭示光與物質(zhì)相互作用的規(guī)律。這有助于深入理解光的行為和性質(zhì)，為光學(xué)理論的發(fā)展提供實(shí)驗(yàn)證據(jù)。

　　優(yōu)化材料設(shè)計(jì)：能夠提供準(zhǔn)確的光學(xué)特性數(shù)據(jù)，幫助研究人員優(yōu)化材料的設(shè)計(jì)和選取。通過精確測(cè)量和分析，可以提高材料的光學(xué)性能，推動(dòng)新材料在光學(xué)領(lǐng)域的應(yīng)用。

　　支持工程應(yīng)用：在工程領(lǐng)域中有著廣泛的應(yīng)用，可用于光學(xué)元件的表征、光學(xué)系統(tǒng)的校準(zhǔn)和調(diào)試等。它為工程師們提供了一種有效的手段來評(píng)估和改進(jìn)

　　UV-2202PCSR反射測(cè)試儀的詳細(xì)參數(shù):

　　波長(zhǎng)范圍：190-1100nm

　　光譜帶寬：0.5/1/2/4 狹縫自動(dòng)可變

　　方形小測(cè)試φ2反射樣品

　　波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：±0.5nm

　　波長(zhǎng)重復(fù)性：0.2nm

　　光度準(zhǔn)確度：±0.5%T

　　光度重復(fù)性：0.2%T

　　雜散光：0.1%T（220/340nm處）

　　穩(wěn)定性：±0.001A/h(500nm處)

　　顯示方式：液晶顯示器

　　小分辨率0.1nm

　　吸光度范圍：-0.3-3.0A，0-200%T

　　檢測(cè)器： 進(jìn)口硅光二極管

　　光源： 進(jìn)口品牌鎢燈

　　鍵盤： 觸摸式按鍵

　　數(shù)據(jù)輸出： RS-232標(biāo)準(zhǔn)接口 /USB接口

　　打印輸出： 并口

　　電源： 85-230V

　　儀器尺寸： 470*380*200mm

　　機(jī)重量： 14kg

　　透射率測(cè)試圖