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GTEM小室

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  • 型號(hào) FF-GTEM75
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)商
  • 所在地 武漢市

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更新時(shí)間:2025-03-04 17:52:54瀏覽次數(shù):6528

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 醫(yī)療衛(wèi)生,電子/電池,道路/軌道/船舶,航空航天,汽車及零部件
GTEM小室的工作原理是通過(guò)將高頻電磁波引入小室內(nèi)部,然后讓它們?cè)诮饘贇んw和中心金屬塔之間反射并傳播,從而形成一個(gè)穩(wěn)定的電磁場(chǎng)。這種電磁場(chǎng)可以被用來(lái)測(cè)試各種電磁設(shè)備,例如手機(jī)、電視機(jī)頂盒、WiFi路由器等。

詳細(xì)介紹

  GTEM小室是一種電磁波測(cè)試設(shè)備,常用于各種無(wú)線電設(shè)備和天線的性能測(cè)試。它的外觀類似于一個(gè)長(zhǎng)方體的金屬盒子,內(nèi)部有一個(gè)中空的金屬塔,塔上有一個(gè)接收天線,底部有一個(gè)發(fā)射天線。整個(gè)小室都覆蓋有絕緣材料,以避免電磁波逃逸或干擾其他設(shè)備。
 
  GTEM小室的工作原理是通過(guò)將高頻電磁波引入小室內(nèi)部,然后讓它們?cè)诮饘贇んw和中心金屬塔之間反射并傳播,從而形成一個(gè)穩(wěn)定的電磁場(chǎng)。這種電磁場(chǎng)可以被用來(lái)測(cè)試各種電磁設(shè)備,例如手機(jī)、電視機(jī)頂盒、WiFi路由器等。
 
  使用GTEM小室進(jìn)行測(cè)試時(shí),需要將待測(cè)試的設(shè)備放置在小室內(nèi)部,并連接到位于小室底部的發(fā)射天線和位于中心金屬塔上的接收天線。然后,通過(guò)向發(fā)射天線中輸入特定的電磁波信號(hào),可以在小室內(nèi)部產(chǎn)生一個(gè)強(qiáng)大的電磁場(chǎng)。接收天線可以檢測(cè)到被測(cè)試設(shè)備產(chǎn)生的電磁波,并將其發(fā)送到外部?jī)x器進(jìn)行分析和測(cè)量。
 
  GTEM小室具有廣泛的應(yīng)用領(lǐng)域,例如無(wú)線電頻率范圍、微波RF測(cè)試和EMC測(cè)試等。它可以幫助工程師們確定電磁設(shè)備的性能和故障,并確保它們符合各種國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和法規(guī)。并且由于GTEM小室結(jié)構(gòu)緊湊,易于安裝和操作,因此在工業(yè)界和學(xué)術(shù)界都得到了廣泛的使用。
 
  GTEM小室全稱為吉赫茲?rùn)M電磁波傳輸室,是電磁兼容領(lǐng)域新近發(fā)展起來(lái)用于寬帶測(cè)量評(píng)定被測(cè)設(shè)備電磁兼容性能的新技術(shù)。它繼承了非對(duì)稱式TEM小室的損耗小、場(chǎng)強(qiáng)均勻、場(chǎng)強(qiáng)準(zhǔn)確可調(diào)等優(yōu)點(diǎn),吸取了無(wú)反射室可測(cè)頻率高的優(yōu)點(diǎn),同時(shí)又彌補(bǔ)了TEMcell對(duì)頻率上限的限制及內(nèi)部容積與可使用頻率上限成反比等不足之處,GTEM小室的頻率范圍可從直流至數(shù)GHz以上,其內(nèi)部容積與整體比值大,對(duì)被測(cè)物體大小的限制與頻率無(wú)關(guān),使用時(shí)對(duì)外界環(huán)境無(wú)特殊要求。因此,GTEM小室很早就被歐洲標(biāo)準(zhǔn)認(rèn)可作為電磁輻射敏感度(EMS)測(cè)試設(shè)備,并可作為電磁輻射干擾(EMI)的測(cè)試設(shè)備。由GTEM小室組成納電磁兼容性能測(cè)試系統(tǒng)較之在電波暗室、開闊場(chǎng)地、屏蔽室中采用天線輻射,接收等測(cè)試方法可節(jié)省大量資金,免去對(duì)外界測(cè)試環(huán)境條件的要求,所需配置的儀器設(shè)備簡(jiǎn)單、效率高,并可數(shù)倍地提高測(cè)量速度,極易實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化測(cè)量。
 
GTEM小室
 
   
       參照標(biāo)準(zhǔn)
 
  YD/T 1690.2-2007 《中華人民共和國(guó)通信行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)》-電信設(shè)備內(nèi)部電磁發(fā)射診斷技術(shù)要求和測(cè)量方法(150KHz~1GHz)  第2部分:輻射發(fā)射測(cè)量TEM小室和寬帶TEM小室方法
 
  IEC 61967-2(2005-09)《集成電路-電磁騷擾的測(cè)試方法(150KHz~1GHz)第2部分:輻射騷擾測(cè)量--TEM小室和寬帶TEM小室法》
 
  DINEN61000-4-20-2011 《電磁兼容性(EMC)-第4-20部分:試驗(yàn)和測(cè)量方法.橫向電磁(TEM)波導(dǎo)的輻射和干擾試驗(yàn)》
 
  IEC 61000-4-20-2010 《TEM室測(cè)試方法》
 
  GB/T 17626.20-2014 《電磁兼容、試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù)》橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗(yàn)
 
  GJB151B-2013 《設(shè)備和分系統(tǒng)電磁發(fā)射和敏感度要求與測(cè)量》-RS105瞬態(tài)電磁場(chǎng)輻射敏感度
 
  ISO 11452-3/SAE J1113-24 《道路車輛用窄帶發(fā)射的電磁能量進(jìn)行電子干擾部件試驗(yàn)方法》-TEM小室法
 
  IEEE 1309-2013 《頻率為9KHz~40GHz的電磁場(chǎng)傳感器和探頭(天線除外)的校準(zhǔn)》
 
  JJG 561-88 /JJG 562-88《中華人民共和國(guó)國(guó)家計(jì)量檢定規(guī)程》

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