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AES-A1035W-快速溫度循環(huán)試驗箱的運行過程
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貨物所在地: 上海上海市
產(chǎn)地: 上海德偲制冷科技合伙企業(yè)(有限合伙)
更新時間: 2024-05-13 21:00:24
期: 2024年5月13日--2024年11月13日
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產(chǎn)品簡介

快速溫度循環(huán)試驗箱的運行過程。高低溫箱是有兩組制冷壓縮機組,出現(xiàn)溫度不穩(wěn)定的情況很多是因為制冷劑的缺乏,我們可以檢查一下低溫壓縮機的排氣與吸氣壓力值,如果壓力值偏低,而且吸氣壓力呈現(xiàn)抽空狀態(tài),那就是制冷劑量問題。

詳細(xì)介紹

      在集成電路行業(yè)大家想必都知道,集成電路IC卡在出廠之前是需要經(jīng)過高低溫測試的,來測試其在高低溫環(huán)境下的性能,那么,關(guān)于快速溫度循環(huán)試驗箱大家了解多少呢?

無錫冠亞

  集成電路 IC 卡在出廠前需要經(jīng)過環(huán)境測試,用來模擬集成電路在不同工作環(huán)境中的性能,集成電路高低溫測試憑借封裝級和晶片級集成電路高低溫測試機協(xié)助廠商完成例如高低溫循環(huán)測試、冷熱沖擊測試、老化測試等試驗。集成電路高低溫測試每秒可快速升溫/降溫固定的度數(shù)、測試溫度準(zhǔn)確度高達(dá)±1℃,特別適合大規(guī)模集成電路的高低溫電性能檢測。

  集成電路高低溫測試?yán)每諌簷C將干燥潔凈的空氣通入制冷機進行低溫處理,然后空氣經(jīng)由外部管路到達(dá)加熱頭進行升溫;將被測電路IC卡放置在熱流罩位置,根據(jù)操作員設(shè)定,噴出 和設(shè)定溫度相差±1℃的氣流,從而進行電路板的高低溫測試。集成電路高低溫測試自帶過熱溫度保護系統(tǒng),出廠設(shè)置溫度 +125°C,操作員可根據(jù)實際需要設(shè)置高低溫限制點,當(dāng)溫度達(dá)到設(shè)置溫度時,測試機將自動停機。將待測 IC卡和溫度傳感器放置在集成電路高低溫測試測試腔中,操作員設(shè)置需要測試的溫度范圍,啟動集成電路高低溫測試,利用空壓機將干燥潔凈的空氣通入制冷機進行低溫處理,然后空氣經(jīng)由外部管路到達(dá)加熱頭進行升溫。

  在集成電路高低溫測試行業(yè)中,像高低溫測試這樣的廠家雖不多也不少,所以,在選擇的時候需要用戶慎重選擇比較好。

快速溫度循環(huán)試驗箱的運行過程

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