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當(dāng)前位置：深圳市米恩科技有限公司>>產(chǎn)品展示>>Chroma/致茂
致茂Chroma 3650 SoC 測(cè)試系統(tǒng)50/100MHz測(cè)試工作頻率512個(gè) I/O 通道（I/O Channel）16M （32M Max.） Patt...
致茂Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測(cè)試系統(tǒng)50/100MHz測(cè)試工作頻率1024個(gè) I/O 通道（I/O Channel）32M （64M ...
致茂Chroma 3680 *SoC/模擬測(cè)試系統(tǒng)24個(gè)可互換插槽，用于數(shù)字，模擬和混合信號(hào)應(yīng)用150 Mbps數(shù)據(jù)速率 （muxed模式蕞高1Gbps）蕞高5...
致茂Chroma 8000 光伏逆變器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)以Chroma 8000 ATS為基礎(chǔ)的客制化系統(tǒng)，專門針對(duì)光伏逆變器測(cè)試驗(yàn)證。Chroma 8000自動(dòng)測(cè)試...
Chroma7210光伏電池表面品質(zhì)檢查暨分色系統(tǒng)安裝于前端網(wǎng)版印刷制程或終端分選設(shè)備光伏電池正面或背面印刷瑕疵皆可檢測(cè)可檢測(cè)PERC和Bifacial制程所產(chǎn)...
致茂Chroma 7231 光伏硅片線鋸痕檢測(cè)機(jī)可整合到任何硅片分選機(jī)上可調(diào)整式的演算法可供檢測(cè)5“、6“以及單晶、多晶、準(zhǔn)單晶等各種硅片多樣化介面選擇可與不同...
Chroma7214-D光伏電池片抗反射層鍍膜檢測(cè)機(jī)抗反射層鍍膜檢測(cè)瑕疵與鍍膜不均勻的檢測(cè)可安裝于前端PECVD制程之后或者安裝于網(wǎng)版印刷制程之前
7213AD光伏電池片背面印刷暨表面臟污檢測(cè)機(jī)光伏電池片背面印刷暨表面臟污檢測(cè)V型缺角以及剝落類型的瑕疵檢測(cè)可安裝于前端網(wǎng)版印刷制程或者后端出貨分類制程
7212HS光伏電池片正面印刷暨表面臟污檢測(cè)機(jī)可與其他廠商的自動(dòng)化網(wǎng)印線以及終端分選線體進(jìn)行搭配整合自由調(diào)整的人性化操作軟體提供精細(xì)達(dá)14μm/pixel解析度...
致茂Chroma 7202 光伏硅片品質(zhì)檢測(cè)機(jī)可整合到任何硅片分選機(jī)上可調(diào)整式的演算法可供檢測(cè)5“、6“以及單晶、多晶、準(zhǔn)單晶等各種硅片多樣化介面選擇可與不同設(shè)...
Chroma 7201光伏硅片外觀暨表面臟污檢測(cè)機(jī)可整合到任何硅片分選機(jī)上可調(diào)整式的演算法可供檢測(cè)5“、6“以及單晶、多晶、準(zhǔn)單晶等各種硅片多樣化介面選擇可與不...
致茂Chroma 7210-P 網(wǎng)印端自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)太陽能電池片網(wǎng)印端自動(dòng)檢測(cè)設(shè)備安裝于網(wǎng)印端印刷轉(zhuǎn)盤上可與不同自動(dòng)化線體廠商進(jìn)行整合高擴(kuò)充性的演算法編輯器，針對(duì)...
Chroma7200光伏電池片與硅片自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)7200光伏電池片與硅片自動(dòng)化檢測(cè)系統(tǒng)7201光伏硅片外觀暨表面臟污檢測(cè)機(jī)7202光伏硅片品質(zhì)檢測(cè)機(jī)7231光...
致茂Chroma 7503三維光學(xué)輪廓儀使用白光干涉量測(cè)技術(shù)，非破壞性、快速表面形貌量測(cè)與分析模組化設(shè)計(jì)可依量測(cè)需求及預(yù)算考慮進(jìn)行各部件選配提供多種表面參數(shù)量測(cè)...
致茂Chroma 7505-05 多功能光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)適用于金屬外殼、電池、CG尺寸品質(zhì)檢測(cè)整合高解析度相機(jī)可進(jìn)行 2D尺寸量測(cè)整合線雷射掃瞄器可進(jìn)行 3D尺寸量...
Chroma 7505-2線上型自動(dòng)化光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)適用于ITO （Indium Tin Oxide）薄膜、RFID、FPC等連續(xù)式（Roll to Roll）制...
致茂Chroma 7505-1 多功能光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)一機(jī)具備1D、2D、3D量測(cè)能力具備膜厚量測(cè)功能（1D），使用穿透反射式量測(cè)，可進(jìn)行非破壞式膜厚量測(cè)使用高解析...
致茂Chroma7505半導(dǎo)體*封裝光學(xué)測(cè)量系統(tǒng)整合白光干涉量測(cè)技術(shù)，進(jìn)行非破壞性的光學(xué)尺寸量測(cè)?？蛇M(jìn)行待測(cè)物之關(guān)鍵尺寸（CD）、Overlay（OVL）及Th...
致茂Chroma 7925TO-CAN 封裝外觀檢測(cè)系統(tǒng)可檢測(cè)TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合不良等缺陷具備自動(dòng)對(duì)焦功能，可克服載盤制造...
致茂Chroma 58603 TO-CAN/CoC 燒機(jī)測(cè)試系統(tǒng)可提供燒機(jī)測(cè)試、信賴性測(cè)試與壽命測(cè)試每個(gè)系統(tǒng)可提供高達(dá)10 個(gè)模組測(cè)試支援 自動(dòng)電流控制模式（A...
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