多功能RoHs鹵素元素測(cè)試儀 返回列表頁(yè)

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多功能RoHs鹵素元素測(cè)試儀

產(chǎn)品特點(diǎn)

1.采用美國(guó)原裝電致冷高性能Si-PIN探測(cè)器，分辨率高，探測(cè)范圍寬,涵蓋RoHS、鹵素、鍍層、合金(含貴金屬)及各種常規(guī)材料分析的基本要求。

2. 配置*DPP數(shù)字多道信號(hào)集成處理器，比普通模擬多道信號(hào)處理器性能更佳，尤其在高計(jì)數(shù)率時(shí)有更好的分辨力(如Hg和Cl等)，高達(dá)80MHz的數(shù)據(jù)傳輸速度使分析時(shí)間更短，測(cè)量重復(fù)性和長(zhǎng)期穩(wěn)定性更好。

3. 內(nèi)置高清攝像系統(tǒng)，清晰觀察樣品，準(zhǔn)確定位樣品測(cè)試區(qū)域。

4. 配套*的FP測(cè)量軟件，集成多種譜圖處理算法和基體校正算法，有效降低儀器測(cè)量中的各種干擾譜峰，使低含量和痕量元素的檢測(cè)結(jié)果更加準(zhǔn)確，更加接近真值水平。

技術(shù)參數(shù)

1. 分析范圍:硫（S）－鈾（U）

 Measurable elements：S-U

2. 含量范圍:2ppm-99.99％

 Element content: 2ppm-99.99％

3. 測(cè)量時(shí)間:50-300秒(可調(diào))

 Measurement time 50-300s（adjustable）

4. 能量分辨率:149±5eV

 Resolution: 149±5eV

5. 高壓電源功率:50W

 High voltage power supply power：50W

6. 樣品腔尺寸: 610mm×320mm×100mm

Sample chamber size : 610mm×320mm×100mm

應(yīng)用領(lǐng)域

鍍層厚度檢測(cè)

ROHS檢測(cè)

合金分析

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