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1769-L32E AB模塊

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5）電容陣列逐次比較型
電容陣列逐次比較型AD在內(nèi)置DA轉(zhuǎn)換器中采用電容矩陣方式，也可稱為電荷再分配型。一般的電阻陣列DA轉(zhuǎn)換器中多數(shù)電阻的值必須一致，在單芯片上生成高精度的電阻并不容易。如果用電容陣列取代電阻陣列，可以用低廉成本制成高精度單片AD轉(zhuǎn)換器。近的逐次比較型AD轉(zhuǎn)換器大多為電容陣列式的。
6）壓頻變換型（如AD650）
壓頻變換型（Voltage-FrequencyConverter）是通過間接轉(zhuǎn)換方式實現(xiàn)模數(shù)轉(zhuǎn)換的。其原理是首先將輸入的模擬信號轉(zhuǎn)換成頻率，然后用計數(shù)器將頻率轉(zhuǎn)換成數(shù)字量。從理論上講這種AD的分辨率幾乎可以無限增加，只要采樣的時間能夠滿足輸出頻率分辨率要求的累積脈沖個數(shù)的寬度。其優(yōu)點是分辨率高、功耗低、價格低，但是需要外部計數(shù)電路共同完成AD轉(zhuǎn)換。
主要技術(shù)指標編輯
1）分辨率(Resolution)指數(shù)字量變化一個小量時模擬信號的變化量，定義為滿刻度與2的n次方的比值。分辨率又稱精度，通常以數(shù)字信號的位數(shù)來表示。
2）轉(zhuǎn)換速率(ConversionRate)是指完成一次從模擬轉(zhuǎn)換到數(shù)字的AD轉(zhuǎn)換所需的時間的倒數(shù)。積分型AD的轉(zhuǎn)換時間是毫秒級屬低速AD，逐次比較型AD是微秒級屬中速AD，全并行/串并行型AD可達到納秒級。采樣時間則是另外一個概念，是指兩次轉(zhuǎn)換的間隔。為了保證轉(zhuǎn)換的正確完成，采樣速率(SampleRate)必須小于或等于轉(zhuǎn)換速率。因此有人習慣上將轉(zhuǎn)換速率在數(shù)值上等同于采樣速率也是可以接受的。常用單位是ksps和Msps，表示每秒采樣千/百萬次（kilo/MillionSamplesperSecond）。
3）量化誤差(QuantizingError)由于AD的有限分辯率而引起的誤差，即有限分辯率AD的階梯狀轉(zhuǎn)移特性曲線與無限分辯率AD（理想AD）的轉(zhuǎn)移特性曲線（直線）之間的大偏差。通常是1個或半個小數(shù)字量的模擬變化量，表示為1LSB、1/2LSB。
4）偏移誤差(OffsetError)輸入信號為零時輸出信號不為零的值，可外接電位器調(diào)至小。

IDEC 底板 機架 PFJ-EB1U

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SEW I/O板 813 611 4.11

SEW I/O板 811 937 6.15

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