冷熱沖擊試驗(yàn)箱

功能用途：

1.  冷熱沖擊試驗(yàn)箱是一款能施加溫度應(yīng)力的試驗(yàn)裝置，由制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)、傳感器系統(tǒng)等組成。

2.   是金屬、塑料、橡膠、電子等材料行業(yè)*的測(cè)試設(shè)備， 用于測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，得以在短時(shí)間內(nèi)檢測(cè)試樣因熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。

3.    冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于儀器儀表、電工電子、化學(xué)、材料等多種零部件或整機(jī)，作溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)，或進(jìn)行應(yīng)力篩選試驗(yàn)，幫助對(duì)試品在擬定條件下的性能、變化作出科學(xué)的分析及評(píng)價(jià)。

執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)

1.    GB/T2423.22-2002《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  第2部分  試驗(yàn)N:溫度變化》

2.    IEC 60068-2-14：1984《基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程  第2部分  試驗(yàn)N:溫度變化》（修正件1：1986）

3.    GB/T2423.1-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A低溫(idt IEC 60068-2-1:1990)

4.    GB/T2423.2-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)B高溫(idt IEC 60068-2-2:1974)

5.    GB/T2423.13-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則(idt IEC 60068-2-33:1971)

6.    IEC600682-33：1997電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

7.    GB/T 2424.13-2002/IEC60068-2-33:1971電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn) 

結(jié)構(gòu)特點(diǎn)： 

 1.三箱式結(jié)構(gòu)：測(cè)試區(qū)（待測(cè)產(chǎn)品固定）和兩個(gè)蓄溫箱（低溫/高溫）。

   2.蓄溫箱通過自動(dòng)風(fēng)門“開/關(guān)”，達(dá)到溫度瞬間變化（沖擊試驗(yàn)）。

   3.沖擊試驗(yàn)過程中PID控制自動(dòng)除霜。

   4.高低溫轉(zhuǎn)換（溫度沖擊）時(shí)間：≤5min

   5.蓄溫極限范圍：-65℃~+200℃

   6.節(jié)能省電：智能PID冷端控制（非冷熱平衡控溫）。