目前正在努力進(jìn)一步提高光電效率。除了電池的設(shè)計(jì)，微調(diào)原材料的質(zhì)量(單晶硅或多晶硅)是實(shí)現(xiàn)更高的功率和更低的成本的主要途徑。FTIR光譜是高靈敏度硅分析的理想工具，布魯克支持工業(yè)和研究團(tuán)體，以確保和提高原材料質(zhì)量和純度。

對(duì)于硅生產(chǎn)商來(lái)說(shuō)，碳、氧和“淺雜質(zhì)”(如B、P……)的測(cè)定是基本的。布魯克CryoSAS是這個(gè)復(fù)雜的太陽(yáng)能級(jí)或電子級(jí)硅低溫質(zhì)量控制的全自動(dòng)工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。它在ppb/ppt范圍內(nèi)的靈敏度令人印象深刻，簡(jiǎn)單的工作流程和無(wú)制冷劑低溫技術(shù)大大減少了人員和運(yùn)行成本。使用布魯克VERTEX80光譜儀和的光致發(fā)光模塊及自動(dòng)無(wú)制冷劑低溫恒溫器，對(duì)于淺雜質(zhì)，可以通過(guò)低溫近紅外光致發(fā)光(PL)技術(shù)甚至可實(shí)現(xiàn)更好的檢測(cè)靈敏度(<1ppt)。 

對(duì)于晶圓和太陽(yáng)能電池制造商，來(lái)自布魯克的SiBrickScan (SBS)能夠以高靈敏度和高精度測(cè)定全硅晶棒中的氧梯度。這一旁線系統(tǒng)為硅結(jié)晶過(guò)程的控制提供了很有價(jià)值的信息，通過(guò)早期無(wú)需切片制備樣品而進(jìn)行廢料鑒別，節(jié)省了資金和能源。

后但同樣重要的是，對(duì)于太陽(yáng)能熱涂層的表征，布魯克提供了基于FTIR（例如VERTEX 或 INVENIO）的輻射率測(cè)定解決方案，輻射率是太陽(yáng)輻射轉(zhuǎn)化為熱量的效率的直接度量。