高低溫試驗箱 返回列表頁

產(chǎn)品型號

高低溫試驗箱

型號說明

HEP GDW  150   S                 

用途

高低溫試驗箱適用于電子元氣件的安全性能測試提供可靠性試驗、產(chǎn)品篩選試驗等，同時通過該試驗，提高產(chǎn)品的可靠性和進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫交變濕熱試驗箱是航空、汽車、家電、科研等領(lǐng)域的測試設(shè)備，考核和確定電工、電子、半導體、通訊、光電、電器、汽車電器、材料等產(chǎn)品，在進行高低溫濕熱試驗的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能，使用的適應(yīng)性，適用于學校，工廠，研發(fā)等單位。

容積和尺寸

有效容積

（150L）

內(nèi)箱尺寸(mm)

W500×D500×H600mm(寬*深*高)

外形尺寸(mm)

W780×D1200×H1750mm(寬*深*高)

性能

溫度范圍

-60℃~+150℃

升溫速率

1℃/min~3℃/min 非線性   空載狀態(tài)

降溫速率

0.7℃/min~1℃/min  非線性 空載狀態(tài)

解析精度

0.01℃

溫度波動度

±0.5℃

溫度偏差

≤±2.0℃

溫度均勻度

≤2.0℃

電源

AC 220V  50Hz（電壓波動≤±10%）

功率

最大有效功率6KW

設(shè)備重量

約200kg以實際重量為準

滿足試驗標準

GJB150.3-2009高溫試驗

GJB150.4-2009低溫試驗

GB/T   10592-2008 高低溫試驗箱技術(shù)條件；

GB/T   2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法   試驗A：低溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）;

GB/T   2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法   試驗B：高溫（IEC 60068-2-1:2007,IDT）；

 GB/T 2423.22-2012電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N:溫度變化（IEC 60068-2-14:2009，IDT）；

冷卻方式

設(shè)備采用風冷式