目錄:卡爾蔡司(上海)管理有限公司>>X射線顯微鏡>> Xradia Context Micro CT工業(yè)CT- 蔡司微米CT
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更新時(shí)間:2024-08-13 14:53:22瀏覽次數(shù):4247評(píng)價(jià)
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 地礦,能源,電子,冶金,綜合 |
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蔡司Xradia Context 微米CT
[產(chǎn)品簡(jiǎn)介]
蔡司Xradia Context 微米CT ,是一款大觀察視野、無(wú)損 3D X射線微焦點(diǎn)計(jì)算斷層掃描系統(tǒng)??蓾M足多種 3D 表征和檢測(cè)需求的成像解決方案,不僅能夠在3D全景中展示完整大樣品的內(nèi)部細(xì)節(jié),還能針對(duì)小樣品使用大的幾何放大倍數(shù)實(shí)現(xiàn)高分辨率和高襯度成像觀察細(xì)節(jié)特征。Xradia Context 建立在歷經(jīng)考驗(yàn)的蔡司Xradia平臺(tái)之上,圖像質(zhì)量、穩(wěn)定性和易用性均屬上乘,且具備高效的工作流環(huán)境和高通量掃描功能。兼容ART3.0高級(jí)重構(gòu)工具箱,利用AI技術(shù)提高成像效率或改善成像質(zhì)量。
[產(chǎn)品特點(diǎn)]
ü 實(shí)測(cè)體素分辨率可達(dá)500nm
ü 大視野成像能力,單次掃描即可對(duì)寬度達(dá) 140 mm、高度達(dá) 93 mm 的大樣品進(jìn)行成像
ü 出色的高純度 X 射線濾光片,可根據(jù)樣品進(jìn)行射線硬化矯正
ü 強(qiáng)大的自動(dòng)漂移校正模式,先進(jìn)的射線硬化去除算法
ü 先進(jìn)的特殊算法保證獲取優(yōu)秀的成像質(zhì)量
ü 高硬件配置,包括穩(wěn)定的源、靈敏的探測(cè)器以及高精度4軸馬達(dá)臺(tái)等
ü 用戶可自定義樣品任意位置局部放大成像
ü 易用的操作流程
ü 可升級(jí)為X射線顯微鏡
[應(yīng)用領(lǐng)域]
ü 材料科學(xué),如三維無(wú)損分析
ü 生命科學(xué),如微觀結(jié)構(gòu)成像
ü 地球科學(xué),如三維成像
ü 工業(yè)領(lǐng)域,如檢測(cè)分析
材料科學(xué) 生命科學(xué)
地球科學(xué) 工業(yè)檢測(cè)
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