CMOS線掃描傳感器ZS64A5K

CMOS線掃描傳感器ZS64A5K

所述ZS64A5K 是CMOS線掃描傳感器與用于非接觸三維測量非常高的分辨率。借助于透鏡，將要測量的對象成像到傳感器中的線性CMOS陣列。鏡頭確定測量范圍。標(biāo)準(zhǔn)鏡頭可覆蓋1毫米至5000毫米的測量范圍。 

 ZS64A5K的特性：

• 高分辨率1：64000
• 測量范圍5 mm – 5000 mm
• 高靈敏度，可縮短曝光時間
• 掃描速率4673 / s
• 掃描寬度窄
• 標(biāo)準(zhǔn)版本：檢測兩個邊緣位置，亮/暗或暗/亮
• 測量值：邊A，邊B，BA或（A + B）/ 2
• 可選版本：大檢測 八個邊緣位置
• 模擬，校準(zhǔn)的實時測量值

CMOS線掃描傳感器ZS64A5K

引伸計概述

引伸計是一種在材料測試（例如拉伸測試）過程中測量材料樣品應(yīng)變的儀器。原則上，引伸計有兩種類型：接觸式和非接觸式。接觸測量可以通過夾式引伸計進(jìn)行；這種儀器具有至少兩個機械地連接到樣本的邊緣。拉伸樣本會導(dǎo)致邊緣之間的距離變長，這與樣本長度的變化相對應(yīng)。

對于非接觸式測量，使用模擬或數(shù)字光學(xué)引伸計。為了測量材料樣品上的應(yīng)變，樣品通常帶有黑白標(biāo)記。引伸計內(nèi)的傳感器檢測標(biāo)記的運動，從而檢測拉伸試驗期間長度的變化。有引伸計，即使材料樣品溫度非常高（高達(dá)3000°C），它們也能夠測量非?？斓膽?yīng)變（> 100 m / s）。

在拉伸試驗中，非接觸式測量裝置是有利的。通常可以將它們設(shè)置在距樣品一定距離的位置，以防止樣品的飛散碎片損壞測量儀器。因此，光學(xué)引伸計也適用于破壞性材料測試期間的測量。

H.-D. Rudolph GmbH提供各種類型的光學(xué)引伸計：

• 引伸計200XR可進(jìn)行高達(dá)500 kHz的非常快速的測試
• CMOS線掃描傳感器ZS64A5K每秒可實現(xiàn)1：64000和4673測量的高分辨率
• 線掃描傳感器ZS16A分別是速度更快的版本ZS16AHS，可實現(xiàn)1：16000的高分辨率和高穩(wěn)定性
• 引伸計ZS32和ZS32HS分別具有1：32000的分辨率