雙軸測量系統(tǒng)200MPA

雙軸測量系統(tǒng)200MPA

雙軸運動測量

的雙軸測量系統(tǒng)模型200MPA測量一個目標(biāo)在兩個正交軸的線性位移。測量范圍和距離取決于所使用的單個鏡頭。測量范圍從100 mm x 100 mm到1500 mm x 1500 mm。測量距離可達(dá)200?? m。

200 MPA的其他特性

• 測量目標(biāo)在2個正交軸上的線性位移
• 分辨率：x和y為1：16000
• 同時測量
• 掃描速度：1000 / s
• 內(nèi)置查看器允許在很短的時間內(nèi)進(jìn)行設(shè)置
• 堅固的系統(tǒng)；使用固態(tài)技術(shù)
• 操作員無需執(zhí)行任何校準(zhǔn)
• 數(shù)據(jù)輸出X，Y：模擬+/- 10V
• 借助可選的自動準(zhǔn)直儀適配器和特殊鏡頭，它可以測量前視鏡在兩個軸上的角運動。

雙軸測量系統(tǒng)200MPA

引伸計概述

引伸計是一種在材料測試（例如拉伸測試）過程中測量材料樣品應(yīng)變的儀器。原則上，引伸計有兩種類型：接觸式和非接觸式。接觸測量可以通過夾式引伸計進(jìn)行；這種儀器具有至少兩個機械地連接到樣本的邊緣。拉伸樣本會導(dǎo)致邊緣之間的距離變長，這與樣本長度的變化相對應(yīng)。

對于非接觸式測量，使用模擬或數(shù)字光學(xué)引伸計。為了測量材料樣品上的應(yīng)變，樣品通常帶有黑白標(biāo)記。引伸計內(nèi)的傳感器檢測標(biāo)記的運動，從而檢測拉伸試驗期間長度的變化。有引伸計，即使材料樣品溫度非常高（高達(dá)3000°C），它們也能夠測量非常快的應(yīng)變（> 100 m / s）。

在拉伸試驗中，非接觸式測量裝置是有利的。通?？梢詫⑺鼈冊O(shè)置在距樣品一定距離的位置，以防止樣品的飛散碎片損壞測量儀器。因此，光學(xué)引伸計也適用于破壞性材料測試期間的測量。

H.-D. Rudolph GmbH提供各種類型的光學(xué)引伸計：

• 引伸計200XR可進(jìn)行高達(dá)500 kHz的非?？焖俚臏y試
• CMOS線掃描傳感器ZS64A5K每秒可實現(xiàn)1：64000和4673測量的高分辨率
• 線掃描傳感器ZS16A分別是速度更快的版本ZS16AHS，可實現(xiàn)1：16000的高分辨率和高穩(wěn)定性
• 引伸計ZS32和ZS32HS分別具有1：32000的分辨率