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低溫寬頻介電測量系統(tǒng)

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更新時間:2024/07/04 14:36:38瀏覽次數(shù):1291

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應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子
低溫寬頻介電測量系統(tǒng)當(dāng)通過LCR Meter或者分析儀(Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A)測量介電常數(shù)時,加載電壓通常1V左右;然而,很多壓電陶瓷(PZT)和高分子(PVDF)對于加載的電場具有非線性響應(yīng);通常它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下變得更低。

詳細(xì)介紹

低溫寬頻介電測量系統(tǒng)

低溫寬頻介電測量系統(tǒng)當(dāng)通過LCR Meter或者分析儀(Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A)測量介電常數(shù)時,加載電壓通常1V左右;然而,很多壓電陶瓷(PZT)和高分子(PVDF)對于加載的電場具有非線性響應(yīng);通常它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下變得更低。


非線性介電響應(yīng):
      -當(dāng)通過LCR Meter或者分析儀(Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A)測量介電常數(shù)時,加載電壓通常1V左右;然而,很多壓電陶瓷(PZT)和高分子(PVDF)對于加載的電場具有非線性響應(yīng);通常它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下變得更低。
      -在很多應(yīng)用中,例如電容器和驅(qū)動器,介電層>10V/um或者100V/um的高電場下工作,它們的有效介電常數(shù)和損耗tanδ是非常不用于普通LCR Meter和阻抗分析儀的測量值@1Vrms。
      -在介電測試過程中直接加載一個高壓信號,如果樣品突然發(fā)生介電擊穿,這對于昂貴的LCR Meter有很大的損壞風(fēng)險。


因此美國Polyk Technologies公司研發(fā)了此款寬頻譜介電測量系統(tǒng),有效的避免了上述問題的發(fā)生。


低溫寬頻介電測量系統(tǒng)

技術(shù)規(guī)格:
1)大電壓:±4000V;
2)大電流:±20mA;
3)頻率范圍:100Hz to 1MHz;
4)電容范圍:100pF to 100nF;
5)溫度范圍:-184℃ to 250℃;

6)溫度控制腔室:-75℃ to 200℃,無需液氮;(可選)

7)溫度控制腔室:室溫 to 1000℃;(可選)
8)寬頻范圍:20 Hz to 1 MHz or 110 MHz, or 0.01 Hz to 1 MHz(與配備的阻抗分析儀相關(guān));(可選)
9)Large AC信號單元;(可選)



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