產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 觸發(fā)模式 | 穩(wěn)態(tài)式 |
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價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子 |
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
穩(wěn)態(tài)太陽能模擬器
雙燈穩(wěn)態(tài)雙燈太陽光模擬器,光譜不匹配度優(yōu)于±5%,光譜范圍300nm~1800nm!!! 匹配AAA Class標(biāo)準(zhǔn)要求:IEC 60904-9 2007, JIS C 8912-2005, ASTM E927-05!!!
為什么選擇全光譜太陽光模擬器???
1、目前氙燈太陽光模擬器可用光譜范圍只有300nm~1100nm,這對于硅晶體系太陽能電池/組件等光譜響應(yīng)范圍比較窄的測試沒有問題;但是對于光譜響應(yīng)范圍超過1100nm的前后結(jié)、多結(jié)、半導(dǎo)體化合物等和新型薄膜太陽能電池測試,就不能實(shí)現(xiàn)全光譜范圍的*響應(yīng),此時(shí)測量的數(shù)據(jù)則不能準(zhǔn)確表達(dá)太陽能電池本征性能;所以只有全光譜太陽光模擬器可有效解決這個問題,從而也為各種太陽能電池的準(zhǔn)確測試、計(jì)量標(biāo)準(zhǔn)化、研究和研發(fā)新一代太陽能電池提供有力的手段;
2、光譜不匹配性優(yōu)于±5%(高于標(biāo)準(zhǔn)值±25%),有效的避免了光譜不匹配引起的光譜失配誤差,不僅大大提高測試結(jié)果的準(zhǔn)確性,而且增加了數(shù)據(jù)的可信度(已被中國計(jì)量科學(xué)研究院采用);
穩(wěn)態(tài)太陽能模擬器主要應(yīng)用:
滿足各種太陽能電池的測試,例如非晶硅(Amorphus Silicon, a-Si)、微晶硅(Nanocrystalline Silicon,nc-Si,Microcrystalline Silicon,mc-Si)、半導(dǎo)體化合物II-IV 族[CdS、CdTe(碲化鎘)、CuInSe2]、染料敏化電池(DSSC)、有機(jī)導(dǎo)電高分子(Organic/polymer solar cells) 、CIGS (銅銦硒化物)、鈣鈦礦太陽能電池、疊層太陽能電池測試等;
主要特點(diǎn):AM1.5G & AM0高匹配光譜!
1)匹配AAA Class標(biāo)準(zhǔn);
2)AM1.5G圍:300nm~1800nm;
3)光譜不匹配度(IEC 60904-9 ): <±5%,class A+ ;
4)有效照射面積內(nèi)光強(qiáng)不均勻度(IEC 60904-9 ): <2%,class A ;
5) 光強(qiáng)穩(wěn)定度(IEC 60904-9 ): 1%,class A ;
6)光源穩(wěn)定輸出壽命:1000小時(shí);
7)有效照射面積:50mm×50mm;
8)擴(kuò)展AM0光譜;
9)光強(qiáng)調(diào)節(jié)范圍:±30%;
實(shí)測光譜圖:
AM1.5G光譜
AM0光譜
擴(kuò)展功能:
1)測試源表;
2)測試探針臺;
4)標(biāo)準(zhǔn)電池reference Cell;
5)多路控制器;
6)溫控測試臺;
7)IV測試軟件:
*基本測量功能: 完整 I-V 曲線測量, 完整 P-V 曲線測量,短路電流 Isc 測量,開路電壓 Voc 測量, 短路電流密度 Jsc 測量,峰值功率 Pmax 測量,峰值功率電流 Imp 測量,峰值功率電壓 Vmp 測量,效率測量,填充因子 FF 測量,串聯(lián)電阻 Rs 測量,并聯(lián)電阻 Rsh 測量;
*Light光照條件下,太陽能電池IV 和PV曲線測量(包含F(xiàn)orward正向掃描和Reverse反向掃描測試功能);
*Light光照條件或Dark無光照條件下,太陽能電池I-V 和P-V曲線測量,I-t曲線和V-t曲線測量;
*Bias偏壓或Steady State穩(wěn)態(tài)測量功能(太陽能電池效率衰減測試功能);
*MPPT大功率追蹤測試功能(Pmax大功率點(diǎn)隨時(shí)間的變化);
*Repeatability 重復(fù)性測試功能;