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參考價(jià)	面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品分類 品牌分類

光催化及光敏材料測(cè)試設(shè)備

光催化專用太陽光模擬器高準(zhǔn)直紫外光源
鈣鈦礦LED/OLED測(cè)試設(shè)備

發(fā)光效率測(cè)量系統(tǒng) 光譜分析系統(tǒng) 光電性能測(cè)量系統(tǒng)
日本SAN-EI 太陽光模擬器

AAA+級(jí)雙光太陽光模擬器 AAA太陽光模擬器 150W 太陽光模擬器聚光太陽光模擬器太陽能電池IV性能測(cè)試儀太陽能電池組件測(cè)試儀太陽能電池測(cè)試多通道太陽能電池穩(wěn)定性測(cè)試 OLED模擬軟件太陽能電池穩(wěn)定性測(cè)試太陽能電池載流子測(cè)試光纖太陽光模擬器光譜響應(yīng)/量子效率量測(cè)儀全光譜太陽光模擬器太陽能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng) AAA級(jí)太陽光模擬器雙燈太陽光模擬器穩(wěn)態(tài)太陽光模擬器瞬態(tài)光電流/光電壓測(cè)試系統(tǒng) 太陽能電池載流子測(cè)試設(shè)備載流子擴(kuò)散長(zhǎng)度測(cè)試系統(tǒng)
薄膜性能測(cè)試設(shè)備

薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜熱應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng) 薄膜生長(zhǎng)速率測(cè)試儀薄膜/涂層殘余應(yīng)力儀電池電極應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng) 薄膜應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng) 原位薄膜應(yīng)力測(cè)試儀薄膜應(yīng)力測(cè)試系統(tǒng) kSA BandiT實(shí)時(shí)襯底溫度測(cè)試儀 kSA 400 RHEED分析系統(tǒng) 反射高能電子衍射儀 RHEED 應(yīng)力測(cè)量系統(tǒng)
共聚焦顯微鏡
激光光束質(zhì)量分析儀
納米材料制備設(shè)備

石墨烯制備系統(tǒng)（CVD）噴霧熱解成膜系統(tǒng) 碳納米管CVD制備系統(tǒng) 原子層沉積系統(tǒng) 卷對(duì)卷涂布系統(tǒng) 涂布機(jī)
微納米加工設(shè)備

納米壓印系統(tǒng)
介電/壓電材料測(cè)試設(shè)備

電卡效應(yīng)測(cè)試儀高溫介電測(cè)試系統(tǒng) 熱釋電測(cè)試儀熱刺激電流測(cè)試儀精密壓電系數(shù)測(cè)試儀高分子壓電系數(shù)測(cè)試儀高場(chǎng)寬頻譜介電測(cè)量系統(tǒng) 低溫寬頻介電測(cè)量系統(tǒng) 電滯回線及高壓介電擊穿強(qiáng)度測(cè)試系統(tǒng) 高壓漏電流及熱釋電測(cè)量系統(tǒng) 電容充放電測(cè)試儀
太陽能電池測(cè)試設(shè)備

瞬態(tài)光電壓測(cè)試瞬態(tài)光電流測(cè)試太陽能電池老化測(cè)試太陽能電池老化壽命測(cè)試儀鈣鈦礦太陽能電池測(cè)試儀太陽能電池單體測(cè)試儀太陽能電池測(cè)試夾具太陽能電池IV測(cè)試軟件
氙燈電源
高純度鈣鈦礦前驅(qū)體材料
其他相關(guān)設(shè)備

產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)地類別	進(jìn)口	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,生物產(chǎn)業(yè),能源,電子
采樣率	60MS/s	時(shí)間解析度	16ns
電壓范圍（標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格）	±12V	電壓范圍（選配）	±60V
阻抗頻率范圍	10mHZ-10MHZ	最小可解析電流	＜100pA
最大電流	±100mA	量測(cè)分辨率	12Bit
量測(cè)時(shí)間	100ms	電腦連接	PXI/USB
操作電壓	100/240 VAC

瞬態(tài)光電壓光電流測(cè)試系統(tǒng)整合了DC,AC和瞬態(tài)測(cè)試，用于太陽能電池瞬態(tài)光電流譜TPC，瞬態(tài)光電壓譜TPV，光強(qiáng)相關(guān)性測(cè)試、變光強(qiáng)J-V曲線、線性增壓載流子抽取Photo-CELIV、強(qiáng)度調(diào)制光電流譜IMPS、強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜IMVS、阻抗譜IS、電容電壓譜CV、深能級(jí)瞬態(tài)譜DLTS等進(jìn)行測(cè)量分析，深入的表征器件的載流子遷移率、載流子壽命和濃度、載流子動(dòng)力學(xué)過程、摻雜和陷阱分布等性能參數(shù)。

詳細(xì)介紹

瞬態(tài)光電壓測(cè)試系統(tǒng)整合了DC,AC和瞬態(tài)測(cè)試，用于太陽能電池瞬態(tài)光電流譜TPC，瞬態(tài)光電壓譜TPV，光強(qiáng)相關(guān)性測(cè)試、變光強(qiáng)J-V曲線、線性增壓載流子抽取Photo-CELIV、強(qiáng)度調(diào)制光電流譜IMPS、強(qiáng)度調(diào)制光電壓譜IMVS、阻抗譜IS、電容電壓譜CV、深能級(jí)瞬態(tài)譜DLTS等進(jìn)行測(cè)量分析，深入的表征器件的載流子遷移率、載流子壽命和濃度、載流子動(dòng)力學(xué)過程、摻雜和陷阱分布等性能參數(shù)，從而對(duì)太陽能電池/OLED器件和其他有機(jī)半導(dǎo)體中的載流子遷移率進(jìn)行有效的分析和測(cè)量。
瞬態(tài)光電壓光電流測(cè)試系統(tǒng)
瞬態(tài)光電壓測(cè)試系統(tǒng)典型用戶:
中國(guó)科學(xué)院化學(xué)研究所（2SET）
中國(guó)科學(xué)院大學(xué)
華南理工大學(xué)
大連理工大學(xué)
山東大學(xué)
寧波大學(xué)
......
瞬態(tài)光電壓光電流測(cè)試系統(tǒng)

測(cè)量參數(shù):
Charge carrier mobility 載流子遷移率
Carrier lifetime 載流子壽命
Recombination efficiency 復(fù)合效率
Charge injection barriers 電荷注入勢(shì)壘
Geometric capacitance 幾何電容
J-V Curve 電流-電壓曲線
Pmax、FF、Voc、Is 光強(qiáng)相關(guān)性曲線測(cè)試
Carrier lifetime 載流子壽命
Trap density 陷阱密度
Trap depth 陷阱深度
Doping density 摻雜濃度
Series resistance 串聯(lián)電阻
Electrical permittivity 介電常數(shù)
Built-in voltage 內(nèi)建電場(chǎng)
Emitter lifetime(OLED) 發(fā)射壽命
軟件后處理功能：可獲得豐富的測(cè)試數(shù)據(jù)

太陽能電池和OLED測(cè)試示意圖：
瞬態(tài)光電壓光電流測(cè)試系統(tǒng)

測(cè)試功能：

技術(shù)規(guī)格：
采樣率：60MS/s
時(shí)間分辨率：16ns
頻率范圍：10mHz to 10MHz
電流分辨率：≤10pA
LED上升時(shí)間：100ns
最大電流：100mA
電壓范圍：±12V

可選功能：
Solar Cell Version or/and OLED Version
Multi-LED模塊：360nm~1100nm for EQE
變溫測(cè)試臺(tái)：-120℃ to 150℃（多種可選）
光譜儀：OLED器件發(fā)光光譜測(cè)量
SUM擴(kuò)展模塊：電壓±60V，電流分辨1pA

應(yīng)用領(lǐng)域：
鈣鈦礦太陽能電池PSCs
有機(jī)、量子點(diǎn)太陽能電池
染料敏化電池DSSC
疊層太陽能電池
CIGS,CdTe,CZTS太陽能電池
鈣鈦礦和量子點(diǎn)LED器件
有機(jī)發(fā)光器件OLED
MIS器件和LECs