目錄:北京賽美思儀器設(shè)備有限公司>>EMCLAB>>紫外/可見(jiàn)分光光度計(jì)>> EMC-NANO-UV紫外/可見(jiàn)分光光度計(jì)
參考價(jià) | 面議 |
參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間:2025-01-13 21:41:43瀏覽次數(shù):1677評(píng)價(jià)
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!
價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 接收器類 | CMOS |
---|---|---|---|
儀器結(jié)構(gòu) | 單光束 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,食品,化工,生物產(chǎn)業(yè),制藥 |
自動(dòng)程度 | 自動(dòng)波長(zhǎng) |
紫外/可見(jiàn)分光光度計(jì) 儀器特點(diǎn):
EMC-NANO-UV
-樣品體積為 0.2~2.0µl的新型NANO比色皿 +10x10 mm比色皿托架
-簡(jiǎn)單易用
-水平光路 - 無(wú)能量損耗
紫外/可見(jiàn)分光光度計(jì) EMC-NANO-UV 詳細(xì)參數(shù):
Wavelength Range:190-1100 nm
Spectral Bandwidth:4 nm
Optical System:Single Beam, grating 1200 lines/mm
Wavelength Accuracy:±0.5 nm
Wavelength Repeatability:0.3 nm
Photometric Accuracy:≤±0.5 % T or ±0.004A@1A
Photometric Range:0-200 % T, -0.3 - 3A, 0-9999 Conc.
Scan Speed:Hi, MED, LOW – MAX: 3000nm/min
Stray Light:0.05 % T@220, 340 nm
Stability:±0.002A/h@500 nm
Baseline Flatness:±0.002A (200-1000 nm)
Noise:0.0005A@500 nm
Detector:Silicone Photodiode
Display:LCD 320*240
Central beam height:15 mm
Flip Cell Holder:0.2~2.5 μl and cuvette 10 mm path length
Light Source:Tungsten & Deuterium lamp
Power Requirement:AC 110/220V 50/60 Hz
Dimensions:(LxH) 490 x 370 x 220 mm
Weight:14kg
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)