超聲波探傷儀相控陣探頭

奧林巴斯?超聲波探傷儀相控陣探頭2.25DM7X4-A17  4DM16X2-A27

優(yōu)勢特性
● 雙晶矩陣探頭匯集了聚焦縱波S掃描和一發(fā)一收縱波檢測策略的優(yōu)勢特性。
● 拓寬了OmniScan和FOCUS PX儀器在檢測粗晶、奧氏體、耐腐蝕合金以及異質(zhì)焊縫時的測量范圍。
● 標(biāo)準(zhǔn)雙晶矩陣探頭的設(shè)計目的是為用戶提供現(xiàn)貨供應(yīng)的檢測能力，具有好的信噪比，可以完成更多的檢測應(yīng)用。

●具有在粒狀材料中發(fā)送和接收縱波的能力。

●增強(qiáng)了在不銹鋼材料中的穿透能力，這些材料包括奧氏體合金、耐腐蝕合金，以及異種材料焊縫。

●優(yōu)異的信噪比。

典型應(yīng)用
A17、A25、A26和A27探頭
● 耐腐蝕合金（CRA）
● 不銹鋼
● 奧氏體材料
● 帶堆焊層的管材（A27）
● 異種材料相接的焊縫

 相控陣技術(shù)的介紹
相控陣超聲檢測區(qū)別于其它技術(shù)的特性是可以通過計算機(jī)控制對多晶片探頭中的單個晶片進(jìn)行激勵（波幅和延遲）。通過軟件對多個壓電復(fù)合材料晶片的激勵可以生成一條聚焦的超聲聲束，方法是在發(fā)射聲束的過程中動態(tài)更改聲束的參數(shù)，如：角度、焦距和焦點(diǎn)大小。要通過相位上的積極干涉生成一條聲束，就要以極小的時間差，分別觸發(fā)探頭的多個活動晶片。同理，從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會以可以計算獲得的時間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個晶片接收到的回波信號匯總之前，需對這些回波信號進(jìn)行時間偏移計算。匯總的結(jié)果是生成一個A掃描，這個A掃描會突出顯示來自所需焦點(diǎn)的響應(yīng)信號，而弱化來自被測樣件其它部位的信號。

使用軟件控制聲束角度、焦距和焦點(diǎn)大小

要生成一條超聲聲束，就需要在差別極小的不同時間對探
頭的不同晶片進(jìn)行脈沖激勵。通過控制探頭晶片之間的時間延遲，可以生成具有不同角度、不同焦距及不同焦點(diǎn)大小的聲束。從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會以可以計算獲得的時間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個晶片接收到的回波信號匯總之前，需對這些回波信號進(jìn)行時間偏移計算。信號匯總的結(jié)果是生成一個A掃描。這個A掃描會突出顯示來自所期望焦點(diǎn)的響應(yīng)信號，而弱化來自材料其它部位的各種回波。

使用以電子方式控制的單個小巧的多晶探頭可以完成多角度檢測

常規(guī)UT檢測需要使用多種不同的探頭。而一個單個相控陣（PA）探頭則可以根據(jù)應(yīng)用的要求進(jìn)行配置，以序列方式產(chǎn)生不同的角度和焦點(diǎn)。
 無需移動部件而完成高速掃查
雖然相控陣技術(shù)要對來自多晶片探頭的許多信號進(jìn)行處理，但是我們要知道：其所得到的信號是一個標(biāo)準(zhǔn)的射頻（RF）信號（或A掃描），這個信號與任何使用固定角度探頭的常規(guī)系統(tǒng)得到的信號相同。這個信號與來自常規(guī)UT系統(tǒng)的任何A掃描一樣，可被評估、處理、過濾并生成圖像?；贏掃描創(chuàng)建的B掃描、 C掃描和D掃描，也與常規(guī)系統(tǒng)生成的這類圖像一樣。它們之間的區(qū)別在于相控陣系統(tǒng)可以使用單個探頭完成多角度檢測。多路傳輸還可以在探頭不動的情況下完成掃查：聚焦聲束
由一個裝有許多晶片的長相控陣探頭的幾個晶片創(chuàng)建。然后聲束被移動（或稱多路傳輸）到其它晶片，以在不移動探頭的情況下，沿掃查軸方向?qū)ぜM(jìn)行高速掃查。這樣探頭就可以不同的檢測角度進(jìn)行一次以上的掃查。這個原理可被應(yīng)用到使用線性相控陣探頭進(jìn)行的平面工件檢測，也可被應(yīng)用到使用圓形相控陣探頭進(jìn)行的管材和棒材檢測 。

奧林巴斯?超聲波探傷儀相控陣探頭2.25DM7X4-A17  4DM16X2-A27