超聲波探傷儀相控陣探頭

奧林巴斯?超聲波探傷儀相控陣探頭2L8-DGS1 4L16-DGS1

2.25L16-45SW1 2.25L16-45LW1 5L16-45SW1 5L16-45SW1 2.25L16-AWS1整合型楔塊陣列探頭

優(yōu)勢特性
● 探頭和楔塊在同一個(gè)外殼中。
● 擁有較低剖面的探頭楔塊組合件，用于接觸式角度聲束的檢測。
● 由于探頭制造過程的特殊性，不需要在探頭孔徑和整合楔塊之間另外加入耦合劑。
● 小巧的裝配件，可以容易地進(jìn)入到狹窄區(qū)域。
● 30°到70°鋼中檢測，橫波或縱波。
● 持握方便。
● 用戶可根據(jù)自己的需要訂購內(nèi)置有楔塊的探頭，以適用于特定的曲度半徑。
典型應(yīng)用
● 同時(shí)使用40°到70°角度聲束，對6 35毫米到19毫米厚的表面（對接接頭、角接接頭及T型接頭）進(jìn)行手動(dòng)焊縫檢測。
● 對應(yīng)力腐蝕裂紋進(jìn)行手動(dòng)檢測。
● 符合AWS和DGS規(guī)范的應(yīng)用。

 相控陣技術(shù)的介紹
相控陣超聲檢測區(qū)別于其它技術(shù)的特性是可以通過計(jì)算機(jī)控制對多晶片探頭中的單個(gè)晶片進(jìn)行激勵(lì)（波幅和延遲）。通過軟件對多個(gè)壓電復(fù)合材料晶片的激勵(lì)可以生成一條聚焦的超聲聲束，方法是在發(fā)射聲束的過程中動(dòng)態(tài)更改聲束的參數(shù)，如：角度、焦距和焦點(diǎn)大小。要通過相位上的積極干涉生成一條聲束，就要以極小的時(shí)間差，分別觸發(fā)探頭的多個(gè)活動(dòng)晶片。同理，從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會(huì)以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個(gè)晶片接收到的回波信號匯總之前，需對這些回波信號進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算。匯總的結(jié)果是生成一個(gè)A掃描，這個(gè)A掃描會(huì)突出顯示來自所需焦點(diǎn)的響應(yīng)信號，而弱化來自被測樣件其它部位的信號。

使用軟件控制聲束角度、焦距和焦點(diǎn)大小

要生成一條超聲聲束，就需要在差別極小的不同時(shí)間對探
頭的不同晶片進(jìn)行脈沖激勵(lì)。通過控制探頭晶片之間的時(shí)間延遲，可以生成具有不同角度、不同焦距及不同焦點(diǎn)大小的聲束。從所期望的焦點(diǎn)反射的回波會(huì)以可以計(jì)算獲得的時(shí)間偏移觸碰到探頭的不同晶片。在將每個(gè)晶片接收到的回波信號匯總之前，需對這些回波信號進(jìn)行時(shí)間偏移計(jì)算。信號匯總的結(jié)果是生成一個(gè)A掃描。這個(gè)A掃描會(huì)突出顯示來自所期望焦點(diǎn)的響應(yīng)信號，而弱化來自材料其它部位的各種回波。

使用以電子方式控制的單個(gè)小巧的多晶探頭可以完成多角度檢測

常規(guī)UT檢測需要使用多種不同的探頭。而一個(gè)單個(gè)相控陣（PA）探頭則可以根據(jù)應(yīng)用的要求進(jìn)行配置，以序列方式產(chǎn)生不同的角度和焦點(diǎn)。
 無需移動(dòng)部件而完成高速掃查
雖然相控陣技術(shù)要對來自多晶片探頭的許多信號進(jìn)行處理，但是我們要知道：其所得到的信號是一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的射頻（RF）信號（或A掃描），這個(gè)信號與任何使用固定角度探頭的常規(guī)系統(tǒng)得到的信號相同。這個(gè)信號與來自常規(guī)UT系統(tǒng)的任何A掃描一樣，可被評估、處理、過濾并生成圖像?；贏掃描創(chuàng)建的B掃描、 C掃描和D掃描，也與常規(guī)系統(tǒng)生成的這類圖像一樣。它們之間的區(qū)別在于相控陣系統(tǒng)可以使用單個(gè)探頭完成多角度檢測。多路傳輸還可以在探頭不動(dòng)的情況下完成掃查：聚焦聲束
由一個(gè)裝有許多晶片的長相控陣探頭的幾個(gè)晶片創(chuàng)建。然后聲束被移動(dòng)（或稱多路傳輸）到其它晶片，以在不移動(dòng)探頭的情況下，沿掃查軸方向?qū)ぜM(jìn)行高速掃查。這樣探頭就可以不同的檢測角度進(jìn)行一次以上的掃查。這個(gè)原理可被應(yīng)用到使用線性相控陣探頭進(jìn)行的平面工件檢測，也可被應(yīng)用到使用圓形相控陣探頭進(jìn)行的管材和棒材檢測 。

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