深圳市中圖儀器股份有限公司

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  • 無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng) 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓粗糙度測量系統(tǒng)提供幾何輪廓分析、粗糙度分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能。其中粗糙度分析包括國際標準ISO4287 的線粗糙度...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓粗糙度測量系統(tǒng)晶圓測量系統(tǒng)晶圓形貌檢測系統(tǒng)半導體晶圓測量
    2024/10/31 9:14:4567

  • 半導體晶圓表面幾何形貌檢測系統(tǒng) 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000半導體晶圓表面幾何形貌檢測系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    半導體晶圓檢測系統(tǒng)晶圓幾何檢測系統(tǒng)晶圓形貌檢測系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓表面檢測系統(tǒng)
    2024/10/22 14:21:27126

  • 晶圓厚度Wafer參數(shù)量測設(shè)備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓厚度Wafer參數(shù)量測設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓量測設(shè)備晶圓厚度量測設(shè)備晶圓Wafer量測設(shè)備半導體晶圓量測無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)
    2024/10/14 11:04:38209

  • 晶圓表面形貌量測設(shè)備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓表面形貌量測設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準確。它通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓形貌量測設(shè)備晶圓表面量測設(shè)備半導體晶圓量測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備
    2024/9/30 14:21:24342

  • 半導體晶圓形貌檢測機 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000半導體晶圓形貌檢測機通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌檢測機半導體晶圓檢測機晶圓檢測機晶圓測量機
    2024/9/19 9:54:53228

  • 晶圓wafer厚度測量設(shè)備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000系列
    WD4000晶圓wafer厚度測量設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有...
    型號： WD4000系列 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓測量設(shè)備晶圓厚度測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量設(shè)備晶圓測量機
    2024/9/6 10:55:50454

  • 半導體晶圓幾何形貌量測設(shè)備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000系列
    WD4000半導體晶圓幾何形貌量測設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有...
    型號： WD4000系列 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    半導體量測設(shè)備晶圓幾何形貌量測設(shè)備半導體測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓測量機
    2024/8/29 9:45:28416

  • 半導體晶圓大翹曲wafer測量設(shè)備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000系列
    WD4000系列半導體晶圓大翹曲wafer測量設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV、BOW、WARP、在高效...
    型號： WD4000系列 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓大翹曲wafer設(shè)備半導體測量設(shè)備晶圓測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)半導體晶圓形貌測量系統(tǒng)
    2024/8/19 9:53:01411

  • 晶圓Wafer厚度測量系統(tǒng) 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000晶圓Wafer厚度測量系統(tǒng)自動測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚?？蓪崿F(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓測量系統(tǒng)晶圓厚度測量晶圓Wafer測量半導體晶圓測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)
    2024/8/9 9:44:32507

  • 晶圓微觀形貌測量系統(tǒng) 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    中圖儀器WD4000晶圓微觀形貌測量系統(tǒng)集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組，使用一臺機器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓形貌測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓測量系統(tǒng)晶圓測量機半導體晶圓測量
    2024/8/6 10:04:31558

  • 半導體晶圓粗糙度表面形貌測量設(shè)備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000半導體晶圓粗糙度表面形貌測量設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓測量設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備晶圓粗糙度測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)半導體晶圓檢測
    2024/7/23 10:05:06626

  • 無圖晶圓膜厚檢測設(shè)備 參考價： ￥3000000

    參考價： 3000000 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓膜厚檢測設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓膜厚檢測設(shè)備無圖晶圓檢測設(shè)備晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓膜厚檢測設(shè)備
    2024/7/18 10:16:29569

  • 無圖晶圓表面形貌粗糙度2D3D檢測機 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓表面形貌粗糙度2D3D檢測機通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓表面形貌檢測機無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓檢測機晶圓形貌測量機晶圓粗糙度測量機
    2024/7/17 10:34:18505

  • 晶圓表面厚度翹曲度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓表面厚度翹曲度測量系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓表面測量系統(tǒng)晶圓厚度測量系統(tǒng)晶圓翹曲度測量系統(tǒng)無圖晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)
    2024/7/16 10:16:52399

  • 晶圓表面形貌參數(shù)測量儀 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓表面形貌參數(shù)測量儀通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓形貌測量儀晶圓表面測量儀無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量設(shè)備晶圓表面測量儀
    2024/7/15 11:18:24451

  • 亞納米分辨率晶圓幾何量測系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    中圖儀器WD4000亞納米分辨率晶圓幾何量測系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓幾何量測系統(tǒng)高分辨率晶圓量測系統(tǒng)晶圓量測系統(tǒng)晶圓量測設(shè)備半導體晶圓量測系統(tǒng)
    2024/7/9 15:14:04451

  • 芯片半導體晶圓非接觸式光學3D表面輪廓儀 參考價： ￥960000

    參考價： 960000 型號：SuperViewW1
    中圖儀器SuperViewW系列芯片半導體晶圓非接觸式光學3D表面輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并...
    型號： SuperView... 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    芯片光學輪廓儀半導體晶圓光學輪廓儀非接觸式光學輪廓儀晶圓3d表面輪廓儀半導體晶圓輪廓儀
    2024/7/9 15:11:58497

  • 無圖晶圓粗糙度測量設(shè)備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓粗糙度測量設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓粗糙度測量設(shè)備晶圓測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓粗糙度測量晶圓檢測設(shè)備
    2024/7/4 17:56:03459

  • 晶圓制程檢測設(shè)備幾何量測系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓制程檢測設(shè)備幾何量測系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓檢測設(shè)備晶圓幾何量測設(shè)備晶圓檢測系統(tǒng)晶圓幾何量測設(shè)備無圖晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)
    2024/7/4 10:05:51390

  • 晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓厚度測量系統(tǒng)自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓厚度形貌測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)晶圓厚度量測設(shè)備晶圓表面形貌測量系統(tǒng)
    2024/7/3 10:26:11754

  • 晶圓形貌測量設(shè)備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓形貌測量設(shè)備自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。能實現(xiàn)Wafer厚度、翹曲度、平面度、線粗糙度、總體厚度變化(TT...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)無圖晶圓形貌測量設(shè)備晶圓測量設(shè)備晶圓幾何形貌測量設(shè)備晶圓測量系統(tǒng)
    2024/7/2 10:13:56612

  • 無圖晶圓幾何形貌測量設(shè)備 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000無圖晶圓幾何形貌測量設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓形貌測量設(shè)備晶圓幾何測量設(shè)備晶圓測量設(shè)備無圖晶圓幾何測量設(shè)備無圖晶圓形貌測量設(shè)備
    2024/6/26 10:44:17706

  • 晶圓測量設(shè)備幾何形貌測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓測量設(shè)備幾何形貌測量系統(tǒng)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩(wěn)定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓測量設(shè)備晶圓幾何測量系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何量測設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備
    2024/6/25 11:26:36590

  • 晶圓厚度高精度測量系統(tǒng) 參考價： 面議

    參考價： 面議 型號：WD4000
    WD4000晶圓厚度高精度測量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、B...
    型號： WD4000 品牌：CHOTEST/中圖儀器所在地：深圳市 對比
    晶圓厚度測量系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓厚度測量半導體晶圓測量
    2024/6/24 17:53:46559
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