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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,航天,汽車,電氣 |
|---|
具有模塊交換功能的超小型測頭，它使用應(yīng)變片機構(gòu)，比機械結(jié)構(gòu)式觸發(fā)測頭的壽命更長、精度更高。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
雷尼紹TP200B測頭本體湖北總代理
TP200系統(tǒng)組件包括：
- TP200或TP200B測頭本體（TP200B為另一款，允許更大振動公差）
- TP200測針模塊 — 選擇固定越程測力：SF（標(biāo)準(zhǔn)測力）或LF（低測力）
- PI 200-3測頭接口
- SCR200測針交換架
還有一種EO模塊（長過行程），過行程測力與SF相同，但工作范圍更大，并在測頭Z軸方向提供保護。
特性與優(yōu)點
- 應(yīng)變片技術(shù)具有*的重復(fù)性和三維輪廓測量
- 零復(fù)位誤差
- 無各向同性影響
- 六向測量能力
- 測針測量距離達100 mm（GF測針）
- 測頭模塊快速交換，無需重新標(biāo)定測尖
- 壽命 >1000萬次觸發(fā)
TP200/TP200B測頭本體
TP200采用微應(yīng)變片傳感器，實現(xiàn)優(yōu)異的測量重復(fù)性和3D空間形狀測量精度，即使配用長測針時也不例外。
傳感器技術(shù)提供亞微米級的重復(fù)性，并且消除了機械結(jié)構(gòu)式測頭存在的各向異性問題。測頭采用成熟的ASIC電子元件，確保了在數(shù)百萬次觸發(fā)中的可靠操作。
TP200B采用的技術(shù)與TP200相同，但允許更高的振動公差。這有助于克服因坐標(biāo)測量機傳導(dǎo)振動或在移動速度很高的情況下使用長測針?biāo)l(fā)的誤觸發(fā)問題。
請注意：我們不推薦TP200B配用LF模塊或曲柄式/星形測針。
規(guī)格摘要 | TP200 | TP200B |
|---|---|---|
主要應(yīng)用 | 用于需要高精度的數(shù)控坐標(biāo)測量機。 | 與TP200一樣，但當(dāng)出現(xiàn)誤觸發(fā)事件時。 |
感應(yīng)方向 | 六軸：±X、±Y、±Z | 六軸：±X、±Y、±Z |
單向重復(fù)性 (2σ µm) | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm | 電平觸發(fā)1：0.40 µm 電平觸發(fā)2：0.50 µm |
XY（2D）輪廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1： ±0.80 µm 電平觸發(fā)2：±0.90 µm | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.2 µm |
XYZ (3D) 輪廓測量偏差 | 電平觸發(fā)1：±1 µm 電平觸發(fā)2：±1.40 µm | 電平觸發(fā)1：±2.50 µm 電平觸發(fā)2：±4 µm |
測針交換的重復(fù)性 | SCR200：±0.50 µm（大） 手動：±1 µm（大） | SCR200：±0.50 µm（大） 手動：±1 µm（大） |
測力（測尖） | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N | XY平面（所有模塊）：0.02 N Z軸（所有模塊）：0.07 N |
越程測力（位移為0.50 mm時） | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N | XY平面（SF / EO模塊）：0.2 N至0.4 N XY平面（LF模塊）：0.1 N至0.15 N Z軸（SF / EO模塊）：4.90 N Z軸（LF模塊）：1.60 N |
重量（測頭傳感器和模塊） | 22 g | 22 g |
長加長桿（如配在PH10 PLUS系列測座上） | 300 mm | 300 mm |
推薦的大測針長度（M2測針系列） | SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF | SF / EO模塊：50 mm鋼質(zhì)至100 mm GF LF模塊：20 mm鋼質(zhì)至50 mm GF |
安裝方式 | M8螺紋 | M8螺紋 |
適合的接口 | PI 200-3、UCC | PI 200-3、UCC |
測針模塊交換架 | 自動：SCR200 手動：MSR1 | 自動：SCR200 手動：MSR1 |
測針系列 | M2 | M2 |
TP200測針模塊
測針模塊通過高重復(fù)性機械定位的磁性接頭安裝在TP200/TP200B測頭本體上，具有快速測針交換功能和測頭過行程保護功能。
有三種測針模塊可供選擇，具有兩種不同的越程測力。
模塊 | SF（標(biāo)準(zhǔn)測力） | LF（低測力） | EO（長過行程） |
|---|---|---|---|
應(yīng)用程序 | 一般使用。 | 小直徑測球或必須使用小測力的場合。 | 額外過行程使坐標(biāo)測量機在較高的碰觸速度下安全停止并回退。 |
注釋 | 測針長可達100 mm，測球直徑 > 1 mm。 | 測球直徑小于1 mm。 | 與SF的過行程測力相同。 測頭Z軸的額外過行程為8 mm。 |
SCR200交換架
SCR200可以高速自動交換多達六個TP200測針模塊。SCR200由獨立的測頭接口 — PI 200-3供電，并可確保安全的測針交換。SCR200套件可包含低測力和標(biāo)準(zhǔn)測力組件，每一種套件都包含一個SCR200加上三個測力相同的測針模塊。
雷尼紹TP200B測頭本體湖北總代理