SediGraph全自動(dòng)Χ光沉降粒度分析儀使用沉降法從均相液體中分析不同大小的固體顆粒物。通過(guò)對(duì)X-射線(xiàn)的吸收測(cè)量可以直接檢測(cè)分離固體顆粒物的質(zhì)量濃度。測(cè)定一定密度顆粒在已知密度和粘度的液體中的沉降，即可以運(yùn)用Stokes方程來(lái)計(jì)算顆粒的等效球直徑。在這種情況下，報(bào)告中的粒徑就是與測(cè)試顆粒具有相同沉降速度的等效球的直徑。

•  儀器與配件報(bào)價(jià)  •  產(chǎn)品培訓(xùn)    

久經(jīng)考驗(yàn)的技術(shù)和可靠性

在過(guò)去的三十多年中，麥克儀器公司的SediGraph是*許多實(shí)驗(yàn)室粒度分析的標(biāo)準(zhǔn)儀器。無(wú)論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專(zhuān)業(yè)的化驗(yàn)室，SediGraph憑借其可靠性得出測(cè)量結(jié)果。粒徑分布的測(cè)量采用沉降法，顆粒通過(guò)直接吸收X射線(xiàn)而被測(cè)量。根據(jù)Stockes定律，通過(guò)測(cè)量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小，粒徑分析范圍為0.1~300μm。

• 產(chǎn)品應(yīng)用

• 軟件和數(shù)據(jù)報(bào)告

• 應(yīng)用筆記、文獻(xiàn)和參考目

• ASTM 方法

智能設(shè)計(jì)特色

SediGraph III Plus 粒度分析儀設(shè)計(jì)確保了測(cè)量的重復(fù)性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易，日常維護(hù)更加簡(jiǎn)單。并且能夠確保對(duì)同一樣品，在任意一臺(tái)SediGraph儀器上都能獲得重復(fù)性的結(jié)果。

• 簡(jiǎn)化泵系統(tǒng)，確?？焖俜治龊鸵子诰S護(hù)

• 降低噪聲，提供更加安靜的工作環(huán)境

• 維護(hù)提醒裝置，根據(jù)總測(cè)試量，提示用戶(hù)進(jìn)行定期維護(hù)

• 電腦控制混合室溫度，提高測(cè)試可重復(fù)性

• Windows操作軟件，以太網(wǎng)連接，可進(jìn)行點(diǎn)擊式選擇菜單，聯(lián)網(wǎng)工作，打印機(jī)選擇，剪切和粘貼等操作

• 多功能和交互式報(bào)告系統(tǒng)，能夠提供多種類(lèi)型的報(bào)告，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）

全自動(dòng)Χ光沉降粒度分析儀多項(xiàng)功能